Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #293771293 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die hochauflösende Bildgebung und Analyse von Oberflächen und Grenzflächen in einer Vielzahl von Materialien von Nanopartikeln bis hin zu großen Strukturen entwickelt wurde. Dieses SEM ist in der Lage, Bilder mit hohem Durchsatz abzubilden, was zu detaillierten Bildern bis zu 2nm Auflösung führt. FEI XL 30 verfügt über eine automatische Fokusausrüstung und Strahlausrichtung für höchste Bildqualität. Dieses SEM verwendet eine Niederbeschleunigungsspannungslinse für zusätzliche Benutzersicherheit und einen Elektronenstrahl für die Abbildung in der Hochvakuumumgebung. Der in-column Sekundärelektronendetektor erzeugt einen hervorragenden Kontrast und Bildausschnitt. PHILIPS XL30 verfügt über ein automatisiertes mehrstufiges System mit hoher Durchsatzprobenanalyse und Handhabung. Durch die Manipulation des Strahls und der Probenstufe kann eine Vielzahl von Daten in einem einzigen Lauf gesammelt werden, einschließlich sowohl quantitativer elementarer Kartierung als auch morphologischer Merkmale. Es verfügt auch über ein energiedispersives Röntgen- (EDX) -Spektrometer, das die rückgestreuten Elektronen verwendet, um ein Spektrum von Kristallstrukturen und einen dedizierten Elektronen-Backscatter-Beugungsdetektor (EBSD) zu erzeugen, um Spitzenintensitäten zu messen. PHILIPS/FEI XL30 ist in der Lage, in einer Vielzahl von Modi abzubilden, wie Hellfeld, Dunkelfeld und differentiellen Kontrast. Dieses SEM ist mit einer einzigartigen Überdruckeinheit zur Probenentlüftung ausgestattet, um zu verhindern, dass Probenverunreinigungen in die Hochvakuumumgebung gelangen. Es enthält auch eine erweiterte Navigationsmaschine zum Auswählen und Bearbeiten von Bildern. Die Probe wird in eine Vakuumkammer gelegt und die Probenumgebung manipuliert, um die gewünschten Abbildungsbedingungen zu erzeugen. FEI XL30 enthält auch ein Bildaufnahmetool zur direkten und Fernsteuerung des SEM. Das Image erfasst Asset-Aufzeichnungen und verarbeitet jedes Bild aus dem SEM und ermöglicht so eine einfache Überprüfung, Archivierung und gemeinsame Nutzung der Ergebnisse. Insgesamt ist XL 30 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop zur detaillierten Bildgebung und Analyse von Materialien, mit dem Benutzer tiefere Einblicke in ihre Proben gewinnen können. Mit seinen integrierten Funktionen wie dem automatisierten mehrstufigen Modell und der fortschrittlichen Navigationsausrüstung bietet dieses SEM eine effiziente und kostengünstige Analyselösung.