Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #293799305 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die bildgebende Lichtprobe und analytische Anwendungen entwickelt wurde. Es eignet sich besonders zur Bildgebung und Analyse von Oberflächentopographie, Probenzusammensetzung und Papieroberflächenstrukturen. FEI XL 30 ist ein variabler Druck SEM mit einem Mindestarbeitsabstand von 30 mm und einem maximalen Arbeitsabstand von 200 mm. Es verfügt über eine Auflösung von 1,2 nm bei 3 keV mit einem digitalen Signalprozessor (DSP) und einer minimalen Elektronen pro Pixel von 8. PHILIPS XL30 SEM basiert auf der Plattform der FEI XL-Serie und umfasst mehrere signifikante Fortschritte. Es verfügt über einen erweiterten automatisierten intelligenten Nähmodus, der ein zusammenhängendes, wiederholbares Sichtfeld und eine motorisierte Tiefeneinstellung ermöglicht. XL 30 verfügt auch über fortschrittliche benutzerfreundliche Software, die Dual-2D-Bildgebung, 3D-tomographische Rekonstruktionen, spektrale Kartierung und energiedispersive Röntgenanalyse für quantitative Elementaranalyse umfasst. PHILIPS XL 30 ist mit einer LMIS1 CCD-Kamera mit 4 Megapixel Auflösung ausgestattet, die hochwertige Bilder erzeugt. Das SEM ist in der Lage, Bilder von 50nm bis 25mm zu produzieren, je nachdem, welche Anwendung Sie verwenden. Das Probenumgebungsmodul bietet eine Reihe von anpassbaren Trägern, einschließlich SEM-Ständer und automatisierbare Probenstufen. Weitere bemerkenswerte Merkmale sind eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche (GUI) mit vier variablen Design für Multi-Beam-Imaging, automatisierte Bildausrichtung, variable Sample Tilt und Stage Scanning, variable Tiefenschärfe und variabler Arbeitsabstand. Der variable Druck SEM liefert stabile Elektronenstrahlen bei niedrigen Drücken, was ein minimales Elektronenstrahlprallen und eine bessere Abbildung nichtleitender Proben ermöglicht. XL30 SEM ist ein leistungsstarkes, aber benutzerfreundliches Instrument, das schnelle und zuverlässige Daten liefert. Seine fortschrittlichen Eigenschaften machen es für zahlreiche Analysen und bildgebende Anwendungen geeignet, einschließlich Probenabbildung, Oberflächentopographie, Teilchengröße/Formanalyse, Probenzusammensetzung und -struktur, Tiefenprofilierung und Elementaranalyse. PHILIPS/FEI XL30 SEM bietet die Flexibilität und Leistung, die für die meisten Laboranwendungen erforderlich sind, und gibt Benutzern die Vielseitigkeit und das Vertrauen, zuverlässige Forschung zu betreiben.