Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #293805730 zu verkaufen

Rasterelektronenmikroskope sind das wichtigste Werkzeug zur Bildgebung und Analyse der strukturellen und elementaren Zusammensetzung einer Probe. PHILIPS/FEI XL 30 ist keine Ausnahme - ein branchenführendes analytisches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das mit einer Feldemissionskanone ausgestattet ist und einen deutlichen Vorteil in Auflösung, Leistung und Analysefähigkeit bietet. FEI XL 30 weist eine maximale Beschleunigungsspannung von 30 kV und eine Punktgröße von 300 nm auf, während die Probenkammer einen Ablenkwinkel von bis zu siebzig Grad aufweisen kann. Dadurch kann der Benutzer auf schwer zugängliche Materialschichten zugreifen, was eine Analyse mit höherer Auflösung und eine Abbildung von Submikron-Merkmalen von oben nach unten ermöglicht. PHILIPS XL30 enthält auch eine auf Titan basierende Pistole, die eine verbesserte Flüssigmetall-Ionen-Quelle (LMIS) verwendet, um Spektroskope in das SEM zu integrieren. Dies erleichtert die energiedispersive Spektroskopie (EDS/EDX) und ermöglicht qualitative, semiquantitative und quantitative Elementzuordnungen für eine Vielzahl von Elementen. Das fortschrittliche Softwarepaket und die benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche von PHILIPS/FEI XL30 die Bedienung vereinfachen und die Flexibilität des Systems gewährleistet eine maximale Ausnutzung des breiten Spektrums an Analysefähigkeiten. Das System bietet auch eine breite Palette von Softwarepaketen, von automatischer Partikelanalyse über Spektroskopie, automatisierte Mustererkennung bis hin zur automatisierten Orientierung; die alle an bestimmte Anforderungen angepasst werden können. So können XL30 optimale Lösungen für Probenvorbereitung, Bildgebung und Analyse liefern. Darüber hinaus umfasst FEI XL30 eine Reihe von Detektoren, einschließlich eines Rückstreuelektronendetektors (BED) und eines Sekundärelektronendetektors (SED). Das BED ist so optimiert, dass es Kontraste zu verschiedenen Probenmorphologien bietet, während das SED eine Reihe von simultanen Kontrastmechanismen bietet, um die Detektion von Probenmerkmalen zu maximieren. Zusammenfassend ist XL 30 ein anspruchsvolles, vielseitiges und dennoch sehr benutzerfreundliches Rasterelektronenmikroskop. Es bietet eine Reihe anspruchsvoller Software, die mit fortschrittlichen Detektionssystemen und vielseitigen Probenhaltern verbunden ist. Dies ist ein Hochleistungswerkzeug für die fortschrittlichsten analytischen Anforderungen.