Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #293809599 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein fortschrittliches wissenschaftliches Instrument, das verwendet wird, um Bilder der Oberflächen von festen Objekten auf mikroskopischer Ebene zu erhalten. Dieses Mikroskop verfügt über eine einzigartige Fähigkeit, Bilder mit größerer Tiefe, Größe und Detail als andere Mikroskope zu erhalten. FEI XL 30 ist ein vollintegriertes Transmissionsrasterelektronenmikroskop und eine hochentwickelte Technologie. Es ist ein besonders leistungsfähiges Werkzeug zur Untersuchung von Nanostrukturen und Querschnittsmerkmalen auf der Mikroskala. Es vereint verschiedene Detektionssysteme wie Sekundärelektronen (SE) -Bildgebung, Signalelektronen (BE) -Bildgebung und rückgestreute Elektronen (BSE) -Bildgebung. So können Forscher die 3D-Architektur innerhalb eines Objekts messen, interne Merkmale verstehen und feine Oberflächendetails unterscheiden. Darüber hinaus ermöglicht die „BackScatter-Technologie“ dieses Mikroskops die Abbildung sehr großer Strukturen mit verbesserter 3D-Auflösung. PHILIPS XL30 SEM ist mit einem einzigartigen „Smartbeam™“ -System ausgestattet, das einen digitalen Bildprozessor und ein Steuerungssystem umfasst, um die Bildgenauigkeit und den Kontrast zu erhöhen. Dies geschieht durch automatisierte Einstellung von Elektronenstrom und Potential. Das System umfasst auch eine automatisierte Bühnenroutine, die mehrere rotierende Positionen der Probe ermöglicht und die Schärfentiefe weiter erhöht. Darüber hinaus bietet der automatische Kollektor-Limiter einen verbesserten Kontrast und reduzierte Ladeeffekte. Die Probenkammer von PHILIPS/FEI XL30 SEM wurde entwickelt, um eine ultra-niedrige Vakuumumgebung bereitzustellen. Dies verhindert Probenschäden und verbessert die Bildqualität. Darüber hinaus ist das Mikroskop mit einer Multifilament-Elektronenquelle ausgestattet, die niedrige Elektronenenergie und niedrige beschleunigte Spannung liefert. Dies reduziert die Beschädigung von Proben aus dem Elektronenstrahl. PHILIPS XL 30 SEM ist das ideale Werkzeug für wissenschaftliche Forschung und Industrie. Es bietet eine hohe Auflösung, überlegene Signal-zu-Rausch-Bildqualität und eine breite Palette von Bildgebungsfunktionen. Die einfache Bedienung und exzellente Zuverlässigkeit machen XL30 SEM zur perfekten Wahl für verschiedene Anwendungen wie Nanomaterialforschung, Mikrobearbeitung, Fehleranalyse und zerstörungsfreie Prüfung.