Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #293822403 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 Rasterelektronenmikroskop ist ein Hochleistungsinstrument, das einen fortschrittlichen Elektronenstrahl verwendet, um detaillierte bildgebende und analytische Fähigkeiten zu erzeugen. Das Mikroskop verfügt über ein in Spalte energiedispersives Röntgenspektrometer (EDS), das es dem Benutzer ermöglicht, elementare Informationen mit der Visualisierung der Zusammensetzung in einzelnen isolierten Domänen zu sammeln. Das Mikroskop verfügt zudem über einen hochauflösenden Rückstreuelektronendetektor zur Probenoberflächenanalyse. FEI XL 30 bietet eine Reihe von bildgebenden Funktionen. Die integrierten STEM-Funktionen (Rasterübertragungselektronenmikroskop) des Mikroskops ermöglichen eine hochauflösende Bildgebung mit Kontrastverbesserung. Die Plattform bietet Mehrwinkel-MINT und zusätzliche spektrale Bildgebungsfähigkeiten, um den Kontrast in speziellen Anwendungen zu verbessern. Seine eingebauten korrelativen Abbildungsmerkmale ermöglichen korrelative Untersuchungen verschiedener Probeneigenschaften mit dem integrierten Hitachi TM-3000 Electron Microscope (SEM-FIB) zur Betrachtung der Struktur. PHILIPS XL30 bietet eine breite Palette von analytischen Techniken. Die in-column EDS-Ausrüstung ermöglicht die Elementaranalyse und ermöglicht die Abbildung von Proben auf Mikroskalenebene. Auch sein In-Column-Energiefiltersystem verbessert die Energieauflösung. Darüber hinaus zeichnen die integrierten Energieverlustspektrometer (EELS) präzise Informationen über die Bindungsenergie einzelner Elektronen auf und helfen bei der Untersuchung komplexer Moleküle. FEI- XL30 wird durch einen gleichzeitigen Bildgebungsmodus angetrieben, eine Windows-basierte Plattform, die es ermöglicht, sehr große Datensätze mit minimalen Verzögerungen zwischen den Bildgebungsschritten zu sammeln. Dies maximiert den Durchsatz des Instruments sowie seine Analysefähigkeit durch die Kombination aller bildgebenden Modi. Schließlich verfügt XL30 über eine vollständige Ergänzung von Top-of-the-Line-Zubehör, einschließlich fokussierter Ionenstrahl (FIB), für präzise Probenbearbeitung und Mikrobearbeitung. Es verfügt auch über eine automatisierte Probenhandhabungseinheit für die Sammlung großer und gefährlicher Proben, die eine maximale Probenlast für das Instrument ermöglicht. PHILIPS/FEI XL30 bietet eine ganze Reihe von bildgebenden und analytischen Funktionen bei einem sehr hohen Durchsatz. Seine In-Column EDS und AALEN Funktionen können die Genauigkeit in der Kompositionsanalyse erheblich verbessern, während seine automatisierte Probenhandhabungsmaschine eine erhöhte Flexibilität und Erweiterbarkeit bietet.