Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #293824913 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das durch die Untersuchung der Wechselwirkungen zwischen einem Elektronenstrahl und der atomaren Struktur der Probe detaillierte Bilder von Oberflächen erzeugen kann. FEI XL 30 wurde entwickelt, um eine effiziente und genaue Bildgebung durch das SEM zu ermöglichen. Es verfügt über automatisierte Funktionen, eine hochgradig konfigurierbare Plattform und maximale Auflösungsfunktionen. Das Instrument verwendet eine hohe Transmission, Wolfram-Filament-Elektronenquelle, die einen hohen Spannungsbereich von 0,4 bis 30 kV bei ultimativen Beschleunigungsspannungen so hoch wie 30kV ermöglicht. Damit ist PHILIPS XL30 ideal für die Untersuchung unbeschichteter, leitfähiger und nicht leitfähiger Materialien wie biologische Proben, nichtleitfähige Kunststoffe, Keramik und Glas. XL30 verfügt über digitale Bilderfassung mit hoher Stabilität und Auflösung. Es hat ein Sichtfeld mit einer maximalen Auflösung von 0,2 nm bei 30kV und 0,5 nm bei 1kV und ist in der Lage, Betriebsspannungen von 1 bis 30 kV zu erreichen. Das Mikroskop verfügt über einen Low-Power-Imaging-Modus für empfindliche Proben und eine schnelle Auto-Zoom-Funktion zur schnelleren Änderung der Fokusebene. Das System verfügt über eine angetriebene automatisierte Stufe, die einen großen Probengrößenbereich ermöglicht und für keine Proben- oder niedrige Nachttischanwendungen verwendet werden kann. Probentransfer, automatisierte Bühnenpositionierung und Probenhandhabung sind ebenfalls verfügbar. Dadurch ist XL 30 in der Lage, eine Vielzahl von Proben in beladenem oder bereitem Zustand einzugeben. FEI XL30 ist mit einer Vielzahl von Merkmalen konfiguriert, darunter energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX), Röntgenabbildung, winkelabhängige sekundäre Elektronenbildgebung und automatisierte Messungen. Zusätzlich ist das System mit einem fortschrittlichen Backscatter-Detektor ausgestattet, der die Erfassung von Elektronenemissionen sowohl im Vorwärts- als auch im Rückstreuwinkel ermöglicht. Die vielen Funktionen und Fähigkeiten von PHILIPS/FEI XL30 machen es zu einer ausgezeichneten Wahl für alle, die eine zuverlässige und genaue Bildgebung mit einem Rasterelektronenmikroskop durchführen möchten. Seine automatisierten Funktionen machen es einfach zu bedienen, während seine hochauflösende Bildgebung es ermöglicht, auch die kleinsten Details zu sehen. Der breite Spannungsbereich, der Leistungsabbildungsmodus und die automatisierten Bühnenfunktionen fördern die Fähigkeit des Benutzers, genau die gewünschten Informationen aus ihrer Probe zu erfassen. PHILIPS XL 30 ist zweifellos ein hervorragendes Werkzeug für alle, die hochwertige Bilder aus dem Rasterelektronenmikroskop erwerben möchten.