Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #293829560 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es ist weit verbreitet in einer Vielzahl von Anwendungen einschließlich Materialwissenschaft, Ingenieurswesen, Biologie, Forensik und Nanotechnologie. Dieses SEM vereint die Stärken und Fähigkeiten von zwei der angesehensten Marken in der Elektronenmikroskopie, FEI und PHILIPS. FEI XL 30 ist mit einer Feldemissionselektronensäule ausgelegt, d.h. es verwendet einen Elektronenemitter, der mit Elektronen geladen werden kann, anstelle eines typischen Wolframfadens, der Elektronen auf einem sehr niedrigen Energieniveau emittiert. Dies erhöht die Genauigkeit, Auflösung und Kontrastfähigkeit im Vergleich zu einem herkömmlichen SEM. Mit PHILIPS XL30 können Anwender Auflösungsstufen bis auf 1 Nanometer erreichen. XL30 liefert hochauflösende Bilder, obwohl es sich um ein relativ preiswertes, aber hochfähiges SEM handelt. Es kann für eine Vielzahl von Scanraten von 0,4 bis 600 Hz konfiguriert werden, was eine schnellere Bildgebung und Analyse ermöglicht. Darüber hinaus bietet es auch ein Trägheitslinsensystem, das Ladeeffekte auf die Probe reduziert und die Auflösung weiter erhöht. XL 30 ist auch in der Lage, schwache Sekundärelektronen zu detektieren und abzubilden, die für bestimmte Anwendungen, wie z.B. bei der Analyse von Oberflächen im Nanoskalibereich, wesentlich sind. Da PHILIPS/FEI XL30 mit einem Detektor für schwache Elektronensignale ausgestattet ist, kann ein Bild schnell und einfach erzeugt werden, um die Struktur oder Morphologie einer Oberfläche auf Nanoebene zu erkennen. PHILIPS XL 30 verfügt auch über eine Reihe von Funktionen, mit denen Benutzer Parameter leicht anpassen können, um die benötigten Bilder zu erfassen. Es kann in einer Vielzahl von Umgebungsbedingungen verwendet werden, wie niedriges Vakuum und sogar Hochvakuum, aufgrund der speziellen Lüftungssystem in es eingebaut. Da das Vakuum einstellbar ist, kann das Mikroskop auf die Bedürfnisse jeder spezifischen Anwendung zugeschnitten werden. Darüber hinaus ist FEI XL30 mit einer „Pole Zero Correction“ -Funktion ausgestattet, die verwendet werden kann, um Verzerrungen oder Artefakte in Bildern zu reduzieren oder zu beseitigen. Diese Funktion kann verwendet werden, um die Klarheit und Auflösung von Bildern zu verbessern sowie Artefakte zu reduzieren, die während eines Scans auftreten könnten. Es reduziert auch die Zeit, die es braucht, um ein hochwertiges Bild zu erzeugen, so dass Benutzer Daten schnell und effizient analysieren und interpretieren können. Zusammenfassend ist PHILIPS/FEI XL 30 eine ausgezeichnete Wahl für diejenigen, die ein hochwertiges und genaues Rasterelektronenmikroskop zu einem erschwinglichen Preis suchen. Es bietet eine Auflösung von bis zu 1 Nanometer, so dass es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist, sowie eine Reihe von Funktionen, die qualitativ hochwertige Bilder und Datenerfassung gewährleisten.