Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #293831005 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), ideal für den Einsatz in der industriellen, akademischen und staatlichen Forschung. FEI XL 30 verfügt über leistungsstarke bildgebende Funktionen, die es dem Benutzer ermöglichen, eine Reihe von Materialien und Strukturen detailliert anzuzeigen. Das Mikroskop ist mit einem hochauflösend gekühlten rückgestreuten Detektor und Everhart-Thornley-Detektor ausgestattet, die beide den Kontrast und die Auflösung verbessern. Das Mikroskop verwendet die neueste FEG-Technologie (Field Emission Gun), die auch bei hohen Vergrößerungen eine erhöhte Auflösung, Stabilität und Bildqualität ermöglicht. Diese Technologie wird durch eine Kombination aus optimierter Sekundärelektronen- und Niedervakuumtechnologie weiter verbessert, die eine überlegene Abbildung von atomarem und magnetischem Material und Strukturen ermöglicht. PHILIPS XL30 bietet auch eine breite Palette von digitalen Bildverarbeitungsfunktionen, wie digitale Bildverarbeitung und AutoMontage. FEI XL30 verfügt auch über ein fortschrittliches Automatisierungssystem, das eine einfache und konsistente Bedienung über die Lebensdauer des Mikroskops ermöglicht. Dieses Automatisierungssystem kann eine Reihe von Parametern wie Probenbewegung, Druck, Neigung, Scan-Größe und Bildauflösung erkennen und verwalten. PHILIPS XL 30 verfügt zudem über eine automatisierte Bühnensteuerung und ein integriertes Aufgabenfolgesystem, das es dem Anwender ermöglicht, eine Reihe von Aufgaben schnell und effizient durchzuführen. XL30 ist für industrielle, akademische und staatliche Forschungszwecke konzipiert, mit fortschrittlichen Funktionen und überlegenen bildgebenden Funktionen. Seine überlegene bildgebende Auflösung, FEG-Technologie und automatisierte Systeme machen PHILIPS/FEI XL30 eine ideale Wahl für diejenigen, die detaillierte Analysen und Beobachtungen durchführen möchten. Die Kombination aus Niedervakuum- und Sekundärelektronentechnologie des Mikroskops ermöglicht es dem Benutzer auch, atomares und magnetisches Material und Strukturen zu betrachten, was ein umfassendes und detailliertes Bild der beobachteten Probe liefert.