Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9062875 zu verkaufen

PHILIPS / FEI XL 30
ID: 9062875
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM), parts machine.
PHILIPS/FEI XL 30 ist ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop (SEM) sowohl für Feldemissions- (FE) als auch für beschleunigte Spannungsanwendungen (AV). Es ist ein High-End, hochauflösendes SEM mit einem umfassenden Zubehörsatz. FEI XL 30 verfügt über ein einzigartiges Waffensteuerungssystem, das entweder eine Feldemission (FE) oder eine Beschleunigungsspannung (AV) ermöglicht. Die Feldemissionskanone bietet eine stabile Stromquelle und ist in der Lage, hohe Elektronenstrahlleistungen zu erreichen, was eine präzise Bildgebung und Analyse ermöglicht. Die Beschleunigungsspannungspistole kann bei niedrigeren Elektronenstrahlenergien hochauflösende Bilder liefern als eine FE-Pistole. PHILIPS XL30 hat eine maximale Vergrößerung von 100.000x und einen Arbeitsabstand von bis zu 500 Mikrometern. Es ist mit einer hochauflösenden, 3-achsigen Probenstufe ausgestattet, die eine invertierte und Vorwärtsbeobachtung sowie eine präzise Manipulation der Probe ermöglicht. PHILIPS XL 30 ist in der Lage, hochempfindliche Bildgebung mit einer Reihe von Detektoren, einschließlich eines integrierten Ultra-Low-Vakuum (ULV) -Detektors, und ist mit einer Vielzahl von Detektoren kompatibel. Es hat auch eine große Detektorkammer, so dass eine breite Palette von Probengrößen abgebildet werden kann. Der Hauptvorteil von FEI XL30 ist die Fähigkeit, große Datensätze dank eines Datenspeichersystems mit hoher Kapazität zu erfassen, zu speichern und zu analysieren. Es enthält auch eine Vielzahl von Softwarepaketen, die für die SEM-Bildgebung und -Analyse maßgeschneidert sind und eine automatisierte Datenerfassung und -speicherung ermöglichen. Darüber hinaus ist XL30 SEM ideal für die Abbildung einer Vielzahl von Proben, einschließlich solcher mit kleinen Merkmalen und solchen mit niedrigen dielektrischen Konstanten. Es ist in der Lage, nichtleitende und schwierige Proben abzubilden, ohne dass eine spezielle Probenvorbereitung erforderlich ist. Insgesamt bietet PHILIPS/FEI XL30 SEM leistungsstarke Funktionen für die Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben. Es ist mit einer breiten Palette von erweiterten Funktionen ausgestattet, die eine präzise und hochgenaue Bildgebung und Datenerfassung ermöglichen.
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