Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9096263 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Materialcharakterisierungs- und bildgebenden Anwendungen verwendet wird. FEI XL 30 ist ein Hochleistungs-SEM zur hochauflösenden Bildgebung und detaillierten Analyse von Materialien. Es ist mit einem Goniometer ausgestattet, das eine präzise Winkeleinstellung für die Probenorientierung ermöglicht, und einer automatischen Umschalteinheit zum schnellen und einfachen Umschalten der Vakuum- und/oder Flüssigstickstoffwerte. Das SEM verfügt auch über ein DualBeam Equipment, das sowohl SEM- als auch fokussierte Ionenstrahl (FIB) -Bildgebungsfunktionen bietet. Das System ist mit einem Everhart-Thornley-Detektor ausgestattet, der eine hochauflösende Abbildung von niedrigeren Spannungen ermöglicht, was zu der niedrigsten Driftkorrektur eines anderen SEM auf dem Markt führt. Diese Einheit verfügt außerdem über eine automatisierte Bildnahtfunktion zur einfachen Analyse großer Proben und eine digitale Röntgenmaschine zur hochauflösenden halbquantitativen Abbildung von Massenproben. PHILIPS verwendet XL30 eine Schottky-Feldemissionskanone (FEG) und eine Gatan Omega UltraScan-Schnittstelle, die eine hohe Stabilität und Auflösung bietet. Das Werkzeug ist auch zur lokalen Bildgebung in der Lage und ist mit einer hochbelastbaren Basis ausgestattet, die eine Probenmontage und -beladung ermöglicht. Seine 5-achsigen HV-Probenstufen verfügen über Mikromotoren, die eine genauere Probenmanipulation ermöglichen. Neben den Probenstufen verfügt FEI XL30 über eine variable Spotgrößensteuerung, die eine präzise Sekundärelektronensteuerung und isotherme Probentemperaturregelung ermöglicht. Zusätzlich zu seinen bildgebenden Fähigkeiten ist XL30 in der Lage, chemische Bildgebung mit fortschrittlicher Energy Dispersive Röntgenspektroskopie (EDS). Es bietet auch eine Reihe von erweiterten Funktionen, wie schnelle und vollautomatische Navigation, Low-Vakuum-Probenvorbereitung und Bildgebung, und Filmabscheidung. Mit seiner außergewöhnlichen Bildgebungsfähigkeit ist XL 30 eine zuverlässige und präzise Option für eine Vielzahl von Anwendungen zur Materialanalyse.