Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9151973 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um hochauflösende Bildgebung, überlegene Bildqualität und genaue Elementaranalyse bereitzustellen. Mit seiner ultrahochauflösenden und fortschrittlichen bildgebenden Funktion eignet sich FEI XL 30 ideal für die Materialcharakterisierung und 3D-Bildgebung und ist damit ein wertvolles Werkzeug für Wissenschaftler und Ingenieure. PHILIPS XL30 wird von einer Feldemissionskanone (FEG) angetrieben, die eine schnelle und effektive Bildgebung mit einer Vielzahl von Strahlströmen ermöglicht. Dieses Elektronenmikroskop verfügt über ein großes vergrößertes Sichtfeld von 150 mm, wodurch große Proben beobachtet werden können. Die große Schärfentiefe macht PHILIPS/FEI XL30 ideal für die Analyse großer Oberflächen und für die Abbildung tiefer Strukturen. Für die Elementaranalyse bietet PHILIPS XL 30 innovative, fortschrittliche bildgebende Funktionen wie die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und die wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie (WDS). Mit EDS kann die elementare Zusammensetzung einer Probe genau bestimmt werden, während WDS die lokale chemische Zusammensetzung an der Probenoberfläche misst. Diese Techniken ermöglichen es, Struktur und Zusammensetzung der Proben auf höchstem Detailniveau genau zu identifizieren. XL 30 bietet zerstörungsfreie 3D-Bildgebung, wodurch Oberflächenmerkmale und interne Strukturen visualisiert werden können. Das Mikroskop verfügt über eine automatisierte Bühnenausrüstung und integrierte Software zur effizienten Datenerfassung, -analyse und -berichterstattung. Spezialisierte Softwaremodule ermöglichen es Biologen, 3D-Rekonstruktionen einer Probe zu drehen und zu manipulieren und bieten wertvolle Einblicke in ihre interne Struktur. XL30 ist ein benutzerfreundliches System, das die Einrichtung, den Betrieb und die Wartung vereinfacht. Die intuitive Benutzeroberfläche sorgt dafür, dass schnell Änderungen vorgenommen werden können und neue Bildgebungseinstellungen schnell integriert werden können. Darüber hinaus ist dieses Gerät mit einer Vielzahl von Peripheriegeräten wie Detektoren, Kameras und Adaptern kompatibel und bietet eine größere Flexibilität für die Anpassung der Maschine an spezielle Anwendungen. Insgesamt ist FEI XL30 ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das eine überlegene bildgebende Auflösung, genaue Elementaranalysefähigkeiten und kritische 3D-Bildgebung für die Materialcharakterisierung bietet. Die Kombination aus fortschrittlichen Funktionen, Zuverlässigkeit und Benutzerfreundlichkeit macht es zu einem leistungsstarken Werkzeug für Forschung und industrielle Anwendungen.