Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9203026 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse von Proben. Es ist mit einem Inlinsen-Sekundärelektronendetektor (SE) und einer Feldemissionsquelle (FE) ausgestattet. Der In-Objektiv-Detektor gibt dem Mikroskop die Möglichkeit, topographische Bilder mit großer Schärfentiefe zu erfassen und überlegene Bilder über das gesamte Sichtfeld zu erzeugen. Die Feldemissionsquelle, angetrieben von Xenongas, bietet hohe Helligkeit, geringe Energieausbreitung und präzise Einstellungen. Die Kombination von In-Objektiv und Feldemission macht FEI XL 30 zu einem hervorragenden Werkzeug für Forschungszwecke. Das Mikroskop ist mit einem einzigartigen In-Linsen-Detektor ausgestattet, der mit drei verschiedenen Vergrößerungen arbeiten kann: 10, 30 und 60x. Dieser hochempfindliche Detektor hat geringe Rauschpegeleigenschaften und ermöglicht eine präzise SEM-Bilderfassung. Der integrierte SE-Signalverstärker ermöglicht es dem Mikroskop auch, SE-Bilder der Probe mit sowohl Konturen als auch Grautönen zu erzeugen. Der FEI X-MaxSEM-Detektor ist mit einer patentierten X-Tilt-Technologie ausgestattet, die 3D-Bildgebung und -analyse ermöglicht. Das kombiniert mit dem hochempfindlichen Detektor macht PHILIPS XL30 perfekt für 3D-Bildaufgaben. Es bietet auch eine schnellere Abtastgeschwindigkeit durch den SE-Detektor, der sich in der hinteren Brennebene des Objektivs befindet, was zu einer reduzierten Totzeit führt. PHILIPS XL 30 bietet eine Vielzahl von analytischen Anwendungen, darunter Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS), Electron Backscatter Diffraction (EBSD), Cathodoluminescence (CL) und Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS). Es bietet auch erweiterte Bildverarbeitungsfunktionen wie Hellfeld, Dunkelfeld und Polarisationskontrast. Dies wird durch eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche erleichtert, die einfach zu bedienen ist und es Benutzern ermöglicht, schnell und genau die gewünschten Bilder und Daten zu erhalten. XL 30 ist die perfekte Wahl für Forscher und Ingenieure, die ein hochwertiges SEM W Laborinstrument benötigen, das zuverlässig, schnell und präzise ist. Es bietet die perfekte Kombination aus hervorragender Leistung, benutzerfreundlicher Bedienung und einer Vielzahl fortschrittlicher Analysefunktionen. Es bietet hervorragende Ergebnisse für nahezu jede Probenanalyse oder bildgebende Anwendung.