Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9236587 zu verkaufen

Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.

ID: 9236587
Scanning Electron Microscope (SEM) Operating system: Windows 3.1 Source: Tungsten hair pin type Vacuum system: Diffusion pump type Detector: SE and BSE Detector Auto stage option Missing parts: Diffusion pump system TMP and vacuum interface PCB SE-Detector unit Rotary pump PC System.
PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) der Firma FEI. Dieses Modell von SEM ist ein Sekundärelektronenmikroskop, das für den Betrieb mit einer Vielzahl von Proben, Größen und Materialien optimiert ist. Es ist in der Lage, hochauflösende 3D-Bilder von Objekten durch die Verwendung eines Elektronenstrahls zu erzeugen, der auf die Probe fokussiert wird. FEI XL 30 ist bekannt für seine Genauigkeit und Präzision bei bildgebenden Objekten, was zum Teil auf ein Design zurückzuführen ist, das die Umweltfähigkeit mit einer digitalen bildgebenden und steuerungstechnischen Ausrüstung integriert. Dieses System ermöglicht eine hohe Kontrolle bei der Einrichtung des Mikroskops und der Aufnahme von Bildern. Die x-y Stufe für PHILIPS XL30 kann sich bis zu 175mm in beide Richtungen bewegen und hat eine maximale Geschwindigkeit von 50mm/s. Es weist auch eine variable Druckkammer zur Steuerung der Umgebung auf, in der die Probe betrachtet wird, die zwischen zweitausend und sechstausend Pascalen einstellbar ist. Ein Leistungsverstärker liefert Beschleunigungsspannungen von 10KV bis 30KV, die eine Vielzahl von Betriebsbedingungen ermöglichen. Das Gerät verfügt außerdem über eine automatisierte Bühnensteuerung, die eine automatisierte Bewegung der Bühne ermöglicht. Dies kann vom Benutzer eingestellt werden, und das Mikroskop verfügt über eine automatische Probenwaage, die die Probenoberfläche jederzeit auf dem Niveau hält. Das primäre Abbildungswerkzeug des Mikroskops besteht aus einem Sekundärelektronendetektor, der einen hohen Kontrast in den vom Mikroskop erzeugten Bildern liefert. Weitere Merkmale des Geräts sind sein integrierter Szintillator und sein einstellbarer Drucksensor, mit dem der Benutzer den Druck der Probenkammer überwachen kann. FEI XL30 ist außerdem mit einem Scan-Wandler ausgestattet, der den eingehenden Elektronenstrahl in digitale Signale umwandelt, so dass die Bilder auf einem Computermonitor angezeigt werden können. Darüber hinaus verfügt das Modell über eine automatisierte Mikroskop-bildgebende Injektionssteuerung, die eine Abbildung auf Autokorrelationszeitskalen von bis zu fünf Sekunden ermöglicht. Dieses Modell von SEM ist ideal für eine Vielzahl von Anwendungen, von Bildungs- und Forschungszwecken bis hin zu industriellen Zwecken. Seine Umweltkontrollfunktionen, Bildgenauigkeit, Empfindlichkeit und automatisierten Optionen machen es zu einer zuverlässigen Wahl für Benutzer aus einer Vielzahl von Hintergründen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor