Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9242267 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für seine überlegene Leistung und Zuverlässigkeit bekannt ist. Seine hochauflösenden Bildgebungs- und Analysefähigkeiten machen es zu einem wünschenswerten Werkzeug für Forscher, die in Nanowissenschaften und verwandten Bereichen arbeiten. FEI XL 30 nutzt Feldemissionselektronenoptik und verzerrungsfreie Hochspannungs-Elektronenkanone, um Bilder mit überlegener Auflösung zu erzeugen, so dass komplizierte Teilchenbildaufgaben mit Leichtigkeit abgeschlossen werden können. PHILIPS XL30 hat ein Signal-Rausch-Erkennungsverhältnis von bis zu 4000:1 und ist damit eines der empfindlichsten und leistungsstärksten Rasterelektronenmikroskope auf dem Markt. XL 30 verfügt über ein vollautomatisches Probenaustauschsystem, das das Umschalten zwischen Proben schnell und bequem ermöglicht. Es verfügt auch über eine leistungsstarke analytische und bildgebende Suite, die eine protometrische Analyse, EDS-Spektroskopie, Bildgebung in Backscatter-, Hellfeld- und Dunkelfeldmodi sowie elementare Kartierung, Teilchenquantifizierung, Schichtdickenmessung und morphologische Charakterisierung ermöglicht. XL30 hat einen einstellbaren Arbeitsabstand von 1 µm bis 300 µm und ermöglicht eine Vielzahl von Bildgebungstechniken. Darüber hinaus können FEI- XL30 mit einer breiten Palette von Zubehör und Probenhaltern verwendet werden, um die Anforderungen fast jeder Mikroskopieanwendung zu erfüllen. PHILIPS/FEI XL30 Rasterelektronenmikroskop ist ein unglaublich zuverlässiges, leistungsfähiges Werkzeug, das es Wissenschaftlern ermöglicht, detaillierte Bildgebung und Analyse auf der Nanoskala durchzuführen. Mit seiner hochmodernen Elektronenoptik und dem vielseitigen Zubehör ist PHILIPS XL 30 eine ideale Lösung zur Partikelbildgebung.