Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9243798 zu verkaufen

FEI XL 30scanning electron microscope (SEM) ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop mit großem Sichtfeld, das für die Hochleistungs-Bildgebung und Analyse von Materialien entwickelt wurde. Das SEM verfügt über eine große Probenkammer mit Vergrößerungsbereichen zwischen 4X und 30X mit erweitertem Arbeitsabstand. So können Proben bis 256 mm in x-y-z-Richtung genau untersucht werden. Es verfügt auch über eine in-column Schottky Feldemissionskanone (FEG) Elektronenquelle mit einem eingebauten Energiefilter. Dies ermöglicht eine helle kontrastreiche Abbildung mit reduzierten chromatischen Aberrationen. Die FEG-Elektronenpistole hat eine lange Lebensdauer und gewährleistet eine stabile Leistung im Laufe der Zeit. Darüber hinaus ist PHILIPS/FEI XL 30 mit einem digitalen Signalprozessor (DSP) ausgestattet, der erweiterte bildgebende Anwendungen ermöglicht. Die erweiterten Detaillierungsfunktionen dieses SEM ermöglichen eine präzise Abbildung von Funktionen bis zu 0,04 nm auf Standardproben. Automatisierte Neigungs- und Fokusbeobachtungsfunktionen bieten hervorragende Oberflächenmorphologie-Bildgebung sowie Querschnittsanalysen. Die hochauflösende Bildgebung wird durch den Einbau einer High-End-Polarisationsobjektivlinse in Verbindung mit einer automatisierten achromatischen Korrektur weiter verbessert. Die erweiterten analytischen Messfähigkeiten von FEI XL 30 zeichnen sich durch eine genaue Niederspannungsspektroskopie, eine vollständige elementare Identifikation von 0,1% bis 100% und eine fortschrittliche qualitative und quantitative Analyse der chemischen Zusammensetzung auf atomarer Ebene aus. Es verfügt über eine breite Palette von verfügbaren Detektoren von EDX und WDX über EBSD, Backscatter und Brightfield. Das gesamte SEM-System wird über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche bedient, die eine einfache Bedienung sowie die Parametrierung von Experimenten ermöglicht. Darüber hinaus gewährleistet die eingebaute Automatisierung konsistente und wiederholbare Vorgänge mit teilweiser oder vollständiger Automatisierung von Prozessen. PHILIPS XL30 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, ideal für High-End-Bildgebung, Analyse und Forschung. Es ermöglicht präzise Bildgebung auf Nanometerebene, während fortschrittliche automatisierte Funktionen wiederholbare Operationen und konsistente Ergebnisse gewährleisten.