Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9245876 zu verkaufen

ID: 9245876
Weinlese: 2000
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM) Stage size: 2" Motor stage With electronics Operating system: Windows NT Computer included No nano-manipulators 2000 vintage.
PHILIPS/FEI XL 30 ist ein High-End-Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es ist eines der fortschrittlichsten Modelle seiner Klasse und kann ausgezeichnete Bilder mit hoher Auflösung und Empfindlichkeit bieten. FEI XL 30 hat ein beeindruckendes Sichtfeld, das die Abbildung von Merkmalen bis zu 5 Nanometern ermöglicht. Die hochauflösende Bildgebung wird durch die Verwendung einer einzigartigen Kombination aus einer Kaltfeldemissionsquelle, einer ultrahohen Vakuumstabilität und einer Vielzahl von Probenvorbereitungstechniken ermöglicht. PHILIPS XL30 hat ein kugelförmiges Design, mit einer Kammer, in der die Hauptkomponenten des Mikroskops untergebracht sind. Dazu gehören die Kaltfeld-Emissionskanone, eine 5-Achsen-Präzisionsstufe und eine Rasterelektronenkanone. Die Kaltfeld-Emissionskanone erzeugt die Elektronen, die dann auf die Oberfläche der Probe gerichtet werden. Die Rasterelektronenkanone dient zur Messung der erzeugten Elektronen und wird durch einen Präzisionsschrittmotor gesteuert. Dies führt zu hochauflösender Bildgebung mit bis zu 15KV Strahlenergie. Die 5-Achsen-Stufe von PHILIPS XL 30 bietet dem Bediener eine hervorragende Stufensteuerung für Probenmanipulation und -analyse. Dies ermöglicht eine genaue Kontrolle über die Drift und Neigung der Probe, so dass ein Höchstmaß an Bildgebung. Zusammen mit der 5-Achsen-Stufe ist ein Objektträgerhalter oder ESEM-Halter, der für die Probenvorbereitung und -untersuchung verwendet werden kann. Der ESEM-Halter ermöglicht die Probenmontage sowohl im Vakuum- als auch im Luftmodus. XL 30 verfügt über eine Reihe von austauschbaren Linsen und Detektoren, die eine breite Palette von Bildgebungstechniken wie SEM, ESEM, BSE, EDX und EBSD ermöglichen. Mit Hilfe der spezialisierten Module kann das Mikroskop die Materialzusammensetzung, Topographie, Oberflächenrauhigkeit und andere Merkmale analysieren. Zusätzlich ist das Mikroskop mit einer computergesteuerten Touchscreen-Steuerung ausgestattet, die eine einfache Bedienung ermöglicht. Insgesamt ist XL30 ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop und eine ausgezeichnete Wahl für Labore, die auf nanoskaliger Ebene forschen möchten. Seine erweiterten Funktionen in Kombination mit detaillierten Bildern, genauen Messungen und mehreren technischen Funktionen machen es zu einem Muss für jedes High-End-Labor.
Es liegen noch keine Bewertungen vor