Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9259822 zu verkaufen

ID: 9259822
Scanning Electron Microscope (SEM) Upgraded with point electronic Tungsten pumped by diffusion pump Electronics Motorized stage Trackball Control panel SE and BSE detectors EDX Detector Operating system: Windows 10.
PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das ein leistungsstarkes Werkzeug für die mikroskopische Bildgebung und Analyse von Proben auf Nanometerebene bietet. FEI XL 30 ist in der Lage, hochauflösende Bildgebung mit einer Auflösung von bis zu 0,3 Nanometern und gleichzeitiger Detektion von drei bildgebenden Modalitäten: Sekundärelektronen, rückgestreute Elektronen und Röntgenspektroskopie. PHILIPS XL30 ist ein großes und vielseitiges Instrument mit einer beeindruckenden Bandbreite an Features und Fähigkeiten. Es bietet Semi-Automatisierungsfunktionen mit einer ergonomischen und benutzerfreundlichen WORKPLACE-Umgebung, mit der Benutzer effizient und effektiv arbeiten können. Das System ist mit der neuesten Scan Augmented Pre-Aligned (SAP) -Musterpositionierungstechnologie ausgestattet, die eine schnelle und genaue wiederholbare Positionseinstellung ermöglicht. Der in FEI- XL30 eingebaute Monochromator weist eine 3-polige Konfiguration auf, die einen Elektronenstrahl ergibt, der homogen ohne sichtbare Koma-Aberrationen beleuchtet wird und optimale Abbildungsbedingungen gewährleistet. Die Super-Auflösung ermöglicht eine verbesserte Detektion feiner Strukturen auf Nanometerebene. Der von PHILIPS/FEI XL30 bereitgestellte SEM-EDS-Detektor ist in der Lage, Informationen von mehreren geladenen Partikeln gleichzeitig zu erfassen, wodurch Elemente bis hin zu Magnesium (9) auf dem Periodensystem detektiert werden können. Es verfügt über ein vollständig integriertes Akquisitions- und Analyse-Softwarepaket, das eine erweiterte Datenverarbeitung ohne externe Pakete ermöglicht. XL30 nutzt sowohl die TrueDepth™ als auch die TrueContrast™ Technologien, um die Schärfentiefe zu erhöhen und überlegene Kontraste und Auflösungen zu liefern. Die Dual-Filament-Elektronenquelle ermöglicht einen erweiterten Dynamikbereich und eine verbesserte Stabilität, während die Korrekturmerkmale des bildgebenden Systems die Zeit und den manuellen Aufwand bei der Korrektur von Degausierposition oder Strom/Spannungseinstellungen reduzieren. Abschließend ist PHILIPS XL 30 ein leistungsstarkes SEM, das beispiellose bildgebende Funktionen in Forschung und Industrie bietet. Es bietet ein beeindruckendes Spektrum an Features, Technologien und Fähigkeiten mit einem ergonomischen Design, das auf die Bedürfnisse von Wissenschaftlern und Wirtschaftsingenieuren zugeschnitten ist. Mit seinen fortschrittlichen Fähigkeiten und seinem erweiterten Leistungsspektrum bietet XL 30 eine umfassende Auswahl an Instrumenten für die Oberflächenanalyse und Bildgebung.
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