Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9260099 zu verkaufen

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ID: 9260099
Weinlese: 2001
Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM) Magnification: 100x to 100,000x PELTIER Cooled specimen stage between -5°C and +60°C Equipped with: SE and BSE detectors High and low (ESEM) vacuum modes Imaging capabilities: Secondary Electron (SE) detector for imaging under high-vacuum Backscattered Electron (BSE) detector for imaging under high-vacuum Large Field Detector (LFD) used between 0.1 and 1.0 torr to detect BSE and SE signals at low accelerating voltage Gaseous Secondary Electron Detector (GSED) allows SE detection at up to 20 torr Wide angle GSED allows SE imaging at up to 10 torr Standard Secondary Electron (ESD) detector contains a 500 µm aperture for imaging up to 20 torr Standard / Wide angle X-ray ESD has a working distance of 10 mm Gaseous BackScattered Electron (GBSD) Detector allows BSE, SE, or BSE+SE imaging up to 10 torr using 500 µm aperture Stage can accommodate (7) 0.25" SEM stubs (3) 1" SEM stubs (2) Standard-sized petrographic thin sections 2001 vintage.
PHILIPS/FEI XL 30 ist eine Art Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in Industrie, Fertigung und wissenschaftlichen Laboren weit verbreitet ist. Es ist ein leistungsstarkes Instrument, das Objekte bis zu 300.000 Mal oder mehr vergrößern kann, so dass Benutzer komplizierte Details der zu untersuchenden Probe sehen können. Es ist ein Dual-Strahl-System, was bedeutet, dass es zwei Elektronenstrahlen gibt, einen für hochauflösende Bilder und den anderen für Strahl-Nanoprobing der Probe. Das bildgebende System basiert auf einer Wolframfeld-Emissionsquelle, die verwendet wird, um den energiereichen Elektronenstrahl zu erzeugen. Diese Elektronen werden dann mit einer Kombination von Magneten und elektrostatischen Linsen fokussiert, bevor sie die Probe erreichen. Die Probe wird zur Analyse in eine Vakuumkammer gelegt, wo sie mit verschiedenen Vergrößerungen auf dem Bildschirm betrachtet wird. Das SEM nutzt die Sekundärelektronen aus der Probe, um ein Bild zu bilden, das dann sehr detailliert analysiert werden kann. Zu den Abbildungsfähigkeiten des Mikroskops FEI XL 30 gehören auch Merkmale wie Rückstreuelektronenbildgebung, Rasterübertragungselektronenmikroskopie (STEM), Kathodolumineszenz und elektronenstrahlinduzierte Stromabbildung. Dies bietet Forschern die Möglichkeit, eine Reihe von Probenmerkmalen abzubilden und zu analysieren. Der Elektronenstrahl ist hoch steuerbar, mit einer Punktgröße von bis zu 0,2 nm, einstellbarem Strahlstrom und beschleunigender Spannung und automatisierter Probenabbildung. Die Probenstufe hat drei Bewegungsachsen, die eine genaue Positionierung ermöglichen, und die hohen Vergrößerungsmöglichkeiten werden durch das digitale Auslesen des Mikroskops verbessert. Darüber hinaus stehen für die Elektronenanalyse eine Vielzahl von Detektoren zur Verfügung, darunter energiedispersive Röntgenstrahlen (EDX) und wellenlängendispersive Röntgenstrahlen (WDS). PHILIPS XL30 ist ein zuverlässiges und anspruchsvolles Instrument, das in der Lage ist, detaillierte Bilder und Analysen einer Vielzahl von Materialien und Komponenten zu erstellen. Seine Robustheit und sein Leistungsspektrum machen PHILIPS XL 30 zu einer ausgezeichneten Wahl für elektronenmikroskopische Anwendungen.
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