Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9260357 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 ist ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das fortschrittliche Technologie in einem kompakten Gehäuse kombiniert. Es ist für den Einsatz in einer Vielzahl von Anwendungen konzipiert und liefert genaue, hochauflösende Bilder für optimale visuelle Klarheit. Dieses SEM eignet sich perfekt für Forschungs- und Entwicklungszwecke in der Bio-, Material- und Industriewissenschaft. FEI XL 30 ist eine Tischplatte SEM und bietet eine Vielzahl von Funktionen, die es einfach zu bedienen machen, wie ein 48 cm (19 in) Monitor, eine intuitive Musterorientierungssoftware und ein mausbasiertes Steuerungssystem. Es hat eine maximale Auflösung von 1,5 nm, eine hohe Quanteneffizienz von bis zu 90% und ein großes Sichtfeld von mehr als 5 mm. Das SEM eignet sich hervorragend für die Bildgebung und Analyse von biologischen und biologischen Proben. PHILIPS XL30 umfasst eine Vielzahl von bildgebenden Modi, wie rückgestreute Elektronenbildgebung (BSE), sekundäre Elektronenbildgebung (SEI) und Rasterübertragungselektronenmikroskopie (STEM). BSE ist eine Technik, die verwendet wird, um Oberflächenmerkmale wie Korngrenzen, Leuchtstoffschichten und geologische Texturen zu erkennen, während SEI verwendet wird, um Oberflächenmorphologie und elementare Zusammensetzung von Materialien zu analysieren. STEM kann verwendet werden, um Gitterstruktur und zelluläre Merkmale auf der Nanometerskala zu beobachten. FEI XL30 bietet auch erweiterte Bildgebungsfunktionen, wie die Stereomikroskopie, die für die Erkennung von subzellulären Objekten verwendet wird; Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS), die eine multiparametrische Analyse der atomaren und elektronischen Struktur von Materialien liefert; und energiefilterte Transmissionselektronenmikroskopie (EFTEM), die eine kontrastreiche Abbildung für biologische und biologische Proben bietet. PHILIPS/FEI XL30 bietet auch spektroskopische Analysefähigkeiten wie die Energiedispersive Spektrometrie (EDS) und den Elektronenenergie-Analysator (EEA), die die Zusammensetzung und elementare Verteilung der Proben mit hoher Genauigkeit messen. Diese spektroskopischen Werkzeuge ermöglichen die Detektion und Charakterisierung von Elementen bis zum Spurenniveau. XL30 nutzt Hochvakuumumgebung und verfügt über eine spezialisierte kryogene Stufe mit Gefrierbruchfähigkeit, die für die Vorbereitung und Abbildung von Proben bis -150 ° C nützlich ist. Darüber hinaus bietet das SEM einen automatisierten Probenwechsler, der eine unbeaufsichtigte großflächige Bildgebung und Röntgenabbildung von Proben ermöglicht. Abschließend ist XL 30 ein funktionelles Tischplatten-Rasterelektronenmikroskop, das genaue, hochauflösende Bilder für Forschungs- und Entwicklungszwecke bietet. Sein benutzerfreundliches Design und sein breites Spektrum an bildgebenden und spektroskopischen Fähigkeiten machen es zur idealen Wahl für Wissenschaftler und Ingenieure.