Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9276335 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das bildgebende und analytische Fähigkeiten bietet, die sowohl für die Materialforschung als auch für Life-Science-Anwendungen erforderlich sind. Das SEM verwendet einen fokussierten Elektronenstrahl, um Bilder von kleinen Strukturen zu erzeugen, die eine vergrößerte Ansicht der Materialoberfläche bei einer maximalen Auflösung von 0,8 Nanometern ermöglichen. Die bildgebende Fähigkeit des Mikroskops wird durch das hohe Niveau elektronenoptischer Korrekturtechnologien erheblich verbessert, was es zu einem idealen Werkzeug für die nanoskalige Bildgebung und Analyse macht. FEI XL 30 verfügt über eine Elektronenquelle, die an 200-30KV betrieben wird, mit 500-300KV optional, so dass eine maximale Probenhöhe von 5 cm und eine minimale Probenhöhe von 5 nm. Diese hohe Auflösung und lange Arbeitsstrecke ermöglicht die Beobachtung großer unregelmäßig geformter Objekte, ohne dass eine Änderung der Linsen erforderlich ist. Das Mikroskop weist ferner einen Inlinsen-Sekundärelektronendetektor und einen rückgestreuten Elektronendetektor auf, um einen hohen Kontrast zwischen Materialien mit unterschiedlichen Dichten zu erzielen. PHILIPS XL30 ist auch mit einer Vielzahl von Detektoren und Detektoren ausgestattet, die eine Reihe von Experimenten und bildgebenden Fähigkeiten ermöglichen, darunter: Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) für die Elementaranalyse, Wavelength Dispersive Spectroscopy (WDS) für die Oberflächenanalyse und Backscattered Electron Detector. Ein hochauflösender Direct Electron Detector (DED) ist auch für die kristallographische Bildgebung verfügbar. Das Mikroskop kann auch zur sekundären Elektronenbildgebung (SEI), zur rückgestreuten Bildgebung (BSI) und zur differentiellen Interferenzkontrastbildgebung (DIC) eingesetzt werden. Die Visualisierungsfunktionen von PHILIPS/FEI XL30 werden durch eine Reihe von Datenerfassungs-, Bildgebungs- und Analysesoftware weiter verbessert. Diese Software ermöglicht es Benutzern, Bilder zu erfassen, quantitative Messungen durchzuführen und leicht auf die Daten zur Veröffentlichung oder zum Vergleich mit anderen SEMs zuzugreifen. XL30 ist ein ideales SEM für eine Vielzahl von Forschungen wie Nanotechnologie, Materialwissenschaft, Geologie, Umweltwissenschaft, Life Science und Forensik. Seine hohe Empfindlichkeit und Auflösung machen es zu einem einzigartigen Werkzeug, mit dem Materialien und Prozesse bei geringeren Vergrößerungen untersucht werden können. Es ist auch eine ausgezeichnete Wahl für die Qualitätskontrolle in der Industrie und im Bildungsbereich.