Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9280521 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Anwendungen in der Nanowissenschaft und Nanotechnologie entwickelt wurde. Die kleine Probenkammer, der niedrige Energiebetrieb und die verbesserten Abbildungsmöglichkeiten machen sie besonders gut für die Niederspannungs-Hochauflösung von sehr kleinen Proben geeignet. FEI XL 30 nutzt ein fortschrittliches Elektronenquellendesign mit einer Elektronensäule, die für ultra-niedrige Elektronenspannungen entwickelt wurde, so dass es ideal ist, um hochauflösende Bilder von sehr kleinen Proben zu erhalten. Das hochoptische System bietet eine hervorragende Spotauflösung für kleine Merkmale und Nanostrukturen. Es enthält auch ein modernes digitales bildgebendes/optisches System. Ein integriertes Array fibrolytischer Optik ermöglicht es PHILIPS XL30, Proben mit nahezu atomarer Auflösung im Hochdruck- und Niedervakuumbereich abzubilden. Darüber hinaus ist XL 30 mit einer breiten Palette von Detektoren für spezielle Anwendungen ausgestattet. Ein einziehbarer rückstreuender Detektor liefert klare, kontrastreiche Bilder topographischer und elementarer Merkmale in der Probe. Für die fortgeschrittene Elementaranalyse steht ein energiedispersives Röntgenspektrometer (EDS) zur Verfügung. Darüber hinaus enthält PHILIPS/FEI XL30 einen Feldemissionsdetektor, der mit hohen Vergrößerungen im Niedervakuum- und Ultra-Niedervakuumbereich arbeiten kann und Bilder mit Sub-Ångström-Auflösung bereitstellt. PHILIPS XL 30 bietet auch eine breite Palette von automatisierten Funktionen, so dass es einfach und schnell zu bedienen. Ein automatisiertes Mapping bietet eine komplexe Leistungs- und Spannungssteuerung, um einen breiten Bildkontrast zu erzeugen. Ein automatisiertes Drift-Unterdrückungssystem eliminiert Drift-Artefakte und liefert schärfere Bilder. Automatisierte Routinearbeiten erleichtern die Probenvorbereitung und -analyse und tragen dazu bei, die Produktivität zu maximieren und die Ermüdung der Benutzer zu minimieren. Schließlich ist XL30 eine zuverlässige, voll ausgestattete SEM-Plattform. Der modulare Aufbau und die maßgeschneiderte Elektronik reduzieren den Wartungs- und Reparaturbedarf. Sein Niedervakuumbetrieb sorgt für weniger Probenabbau und Verschmutzung. Zusammen machen diese Funktionen FEI XL30 eine zuverlässige Wahl für nanoskalige Bildgebung, energiedispersive Röntgenspektroskopie und andere erweiterte Anwendungen.