Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9284171 zu verkaufen

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ID: 9284171
Scanning Electron Microscope (SEM) SE2 Detector Diffusion pump Tungsten source.
PHILIPS/FEI XL 30 ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das mit Hochspannungselektronen Oberflächen von Materialien abtastet und Bilder seiner Topographie, Morphologie und elementaren Zusammensetzung erzeugt. Dieses Modell bietet hohe Leistung bei hochauflösenden Bildgebungs- und Hochgeschwindigkeitsoperationen. FEI XL 30 verfügt über ein beeindruckendes Flachbildschirm mit hoher brauner Auflösung und bietet dem Bediener klare Bilder ihrer Proben. Es hat die Fähigkeit, Bilder schnell zu erfassen und zu speichern, einschließlich solcher mit Farbüberlagerungen, die detaillierte Konturen und Bilder von elementaren Kompositionen für die Analyse bieten. Zusätzlich wird das Bild für maximale Vielseitigkeit direkt auf den Computerbildschirm projiziert. PHILIPS XL30 bietet auch eine beeindruckende Palette an automatisierten Funktionen, von vollautomatischer Neigungs-/Aufzugsausrichtung und Probenoberflächenpositionierung bis zur automatisierten Driftkorrektur. Es hat auch einen dedizierten Strahlablenker und Fokussierzifferblatt zur Änderung der Auflösung von Bildern. Die integrierte Robolab-Ausrüstung ermöglicht die Auswahl vorgegebener Experimente, die eine Automatisierung der Verarbeitung und Analyse ermöglichen. PHILIPS XL 30 verfügt hinsichtlich seiner Betriebskapazitäten über eine breite Palette von Scanoptionen, von niedrigem Vakuum bis hin zu ultrahoher Auflösung in Kombinationssystemen. Es verfügt auch über einen leistungsstarken Phasenkontrast-Bildgebungsmodus, der Phasenkontrast und Kornkontrast sowie Fokussierung bietet, um die Bilddetails zu maximieren. Darüber hinaus verfügt XL30 über eine einstellbare Strahlspannung, die schnell und präzise an die Benutzer angepasst werden kann, um eine bessere Instrumentenbedienung zu ermöglichen. Um maximale Leistung zu ermöglichen, bietet PHILIPS/FEI XL30 eine fortschrittliche Umweltkontrolleinheit, die Feuchtigkeit, Temperatur und Gasdruck anpasst, um die Leistung zu maximieren. Dieses Modell enthält auch ein fortschrittliches Filtersystem, um die Menge an Schadstoffen und Schmutz, die die Probe erreicht, sowie Lärmabsorptionsrahmenböden zu reduzieren, um Vibrationen zu reduzieren. Sicherheitstechnisch weist FEI XL30 eine Sicherheitsverriegelungseinheit für die Probenkammer auf, die den Elektronenstrahl im Bewegungsfall absperren soll. Es gibt auch eine Überlaststromschutzmaschine, die die umgebenden Strukturen und Komponenten vor einer Überspannung schützt. Darüber hinaus verfügt XL 30 über ein Soft-Impact-Bremswerkzeug, das eine sofortige Abschaltung des Elektronenstrahls ermöglicht, wodurch etwaige Schäden an der Probe minimiert werden.
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