Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9300327 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsfähiges Forschungswerkzeug zur Analyse der topographischen, elektrischen und chemischen Eigenschaften einer Vielzahl von Proben. FEI XL 30 ist für den Einsatz in analytischen Forschungs-, Industrie- und Bildungseinrichtungen konzipiert. Zentraler Bestandteil des Mikroskops ist die Elektronensäule, die die Linsen, Ablenker und Magnetfelder enthält, die den Strahl steuern und die Bilder erzeugen. Die Säule von PHILIPS XL30 ist in der Lage, einen fokussierten Strahl mit einer Punktgröße von weniger als einem Nanometer im Durchmesser zu erzeugen. Der Elektronenstrahl wird von einer Elektronenquelle erzeugt und durch eine Reihe von Öffnungen, Linsen und Ablenkern gerichtet, die innerhalb der Säule vorhanden sind. Auf diese Weise kann das Mikroskop bei einer Vielzahl von Vergrößerungen von 0,3 nm bis 500 nm fokussiert und abgebildet werden. Die Proben werden innerhalb der Vakuumkammer betrachtet. Zum Schutz der Proben und der Säulenkomponenten muß in der Kammer ein Druck von 5 x 10-7 mbar eingehalten werden. Die Proben sind auf einem elektrisch leitfähigen Probenhalter montiert, der in die Kammer eingelegt ist. Das SEM-Bildgebungssystem hat die Fähigkeit, sekundäre und rückgestreute Elektronen sowie hochauflösende Beugung zu detektieren. Die wichtigsten Abbildungsmodi, die von XL30 angeboten werden, sind hochauflösender Sekundärelektronenmodus, kombinierter Sekundärelektronenmodus und rückgestreuter Elektronenmodus, Niedervakuummodus und Schneckenelektronenspektroskopie. Das Mikroskop verfügt auch über eine ganze Reihe von spektroskopischen Fähigkeiten für die Analyse der Oberflächentopographie und elementaren Zusammensetzung. An das Mikroskop kann eine ladungsgekoppelte Gerätekamera (CCD) mit einem CCD-Array von 2048 x 2048 Pixeln angeschlossen werden, um digitale Bilder zu erhalten. PHILIPS/FEI XL30 ist eine sehr vielseitige Maschine und ist in der Lage, eine Reihe von Signalen zu erzeugen, wie Differential Interference Contrast (DIC), Energy Dispersive X-Ray (EDX), Röntgenmikrospektroskopie (X-RayMS), Cathodoluminescence (CL L), und Lichtdifferential. Abschließend ist XL 30 Scanning Electron Microscope ein robustes und hochfunktionelles Werkzeug für die Bildgebung und Analyse. Zusammen mit seinem umfassenden Spektrum an bildgebenden, spektroskopischen und analytischen Funktionen bietet PHILIPS XL 30 eine leistungsstarke Forschungsplattform in einer Vielzahl von Anwendungen.