Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9302348 zu verkaufen

Das Rasterelektronenmikroskop PHILIPS/FEI XL 30 (SEM) ist ein fortschrittliches Elektronenmikroskop, das zur Abbildung und Messung der Struktur und Topographie einer Reihe von Proben verwendet wird. Es kombiniert die neuesten Technologien in der Elektronenoptik und der Rasterelektronenmikroskopie und bietet Anwendern beispiellose Bildgebungsleistung, Genauigkeit und Auflösung. Das Gerät nutzt eine hochenergetische Elektronenquelle, die einen beschleunigenden Spannungsbereich von 0,1-30 kV aufweist und eine Vielzahl von Anwendungen ermöglicht. Dies wird mit einem hochauflösenden, feldemittierenden SEM kombiniert, das einen Vergrößerungsbereich von bis zu 70.000x aufweist. FEI XL 30 bietet auch eine breite Palette von bildgebenden Optionen. Benutzer können die In-Linsen-Detektionseinrichtung verwenden, die einen schnellen digitalen Verzögerungsgenerator und einen Multifunktionsverstärker aufweist, oder sie können sich für die sekundären Elektronen- oder Rückstreuelektronendetektoren entscheiden. Der Sekundärelektronendetektor ist für die Abbildung von nichtleitenden oder dünnen Oberflächenproben optimiert. Der rückgestreute Elektronendetektor ist ideal für die Abbildung dickerer nichtleitender Proben. Darüber hinaus bietet PHILIPS XL30 eine Reihe automatisierter Funktionen wie vollautomatische Probenpositionierung, Probenorientierung und Bühnenbewegung sowie ein vollautomatisiertes Niedervakuumpumpsystem. Dies ermöglicht schnellere Abbildungsstandards sowie schnellere, wiederholbare Erträge. Eine vollautomatische Datenerfassung kann auch durch den Einsatz der Intelligent Image Processing Unit (IIPS) erreicht werden. Diese Maschine kann Bilder aus dem SEM in Echtzeit analysieren und erfassen, was effizientere Ergebnisse ermöglicht. Insgesamt ist PHILIPS/FEI XL30 ein extrem leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das Anwendern beispiellose Bildgebungsleistung, Genauigkeit und Auflösung bietet. Mit seinen automatisierten Optionen und High-End-Bildgebungsfunktionen ist XL 30 eine ideale Wahl für diejenigen, die Struktur, Form und Topographie einer Reihe von Proben erfassen und analysieren möchten.