Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9314369 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das von der Firma PhillipsFEI entworfen und hergestellt wurde. Das Allzweck-SEM produziert hochauflösende Bilder, zeichnet sich durch geringe Ionenschäden aus und kann für eine Vielzahl von Probenanalysetechniken verwendet werden. FEI XL 30 setzt auf eine thermionische Feldemissionskanone, um Elektronen zu emittieren, ausgestattet mit einem herkömmlichen In-Linsen-DET-elektrisches Feld und Doppel-Apertur-System. Mit diesem Design kann PHILIPS XL30 auch bei hohen Vergrößerungen eine hervorragende Bildklarheit und Strukturstabilität aufweisen. PHILIPS XL 30 umfasst eine große hochstabile Vakuumkammer und eine magnetfeldreaktionslose elektronenoptische Säule. Die Kombination dieser beiden Merkmale ermöglicht die Durchführung einer Reihe von Probenanalysetechniken. Es ist möglich, mehrere Detektoren, bildgebende Techniken und Autofokus-System zu verwenden, um die Bildqualität anzupassen und Bilder zu erhalten, die die detaillierte Oberflächenstruktur der Probe aufzeigen. Das SEM erzeugt durch sein Abbildungssystem Bilder mit hohem Probenkontrast, während seine niedrige Elektronenstrahlenergie minimale Probenschäden verursacht. Die Bedienung von PHILIPS/FEI XL30 ist intuitiv, mit einem einfach zu bedienenden Bedienfeld, das die Einstellung des Strahlstroms und der Beschleunigungsspannung ermöglicht. Die Einstellung des Strahlstroms ist einfach und kann mit einem Umschalter durchgeführt werden. Für Benutzerfreundlichkeit ist XL30 mit einer niederfrequenten Vibrations- und Geräuschdämpfung ausgelegt. Speziell entwickelt für den Einsatz in hochauflösender Bildgebung von nichtleitenden Proben, können FEI- XL30 für die Bildgebung, Messung und Analyse einer Vielzahl von Proben verwendet werden. In Bezug auf die Probenanalyse kann XL 30 qualitative, chemische oder 3D-Analyse jeder Art von Probe durchführen. Bei Verwendung mit einem Rückstreudetektor wird eine Inspektion von schwach leitfähigen Proben möglich, während ein SEM-Halter zum Drehen der Probe verwendet werden kann. Darüber hinaus arbeitet PHILIPS/FEI XL 30 in Kombination mit einer Reihe von energiedispersiven Detektoren, um eine semiquantitative Elementaranalyse auf einer tieferen Ebene bereitzustellen. FEI XL 30 SEM ist sehr vielseitig einsetzbar und eignet sich für eine Reihe von Probenanalysetechniken, die hochauflösende Bilder mit minimalen Schäden an der Probe erzeugen. Benutzerfreundlich und intuitiv kann es hilfreich für Wissenschaftler und Forscher sein, die eine detaillierte Analyse verschiedener Proben durchführen möchten.