Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9396739 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist eine Feldemission SEM für die Bildgebung und Analyse von Materialien und Proben verwendet. FEI XL 30 kann Bilder von Proben mit 3-5 Nanometer Auflösung erhalten, so dass es ein ideales Werkzeug für Grundlagenforschung, Halbleiter und Life-Science-Anwendungen. PHILIPS XL30 verfügt über eine Kaltfeld-Emissionselektronenquelle im Gegensatz zu einer thermionischen Quelle, die die Elektronenstrahlkohärenz, Helligkeit und Stabilität über einen größeren Bereich von Beschleunigungsspannungen erhöht. Diese höhere Quellhelligkeit trägt dazu bei, die Auflösung des Instruments durch Detektion von Signalen geringer Intensität zu verbessern. PHILIPS XL 30 ist mit einem leistungsstarken Backscatter-Detektorsystem ausgestattet, das bisher unzugängliche Materialanalysedaten erfassen kann. Dieses System ermöglicht sowohl konventionelle als auch aberrationskorrigierte Bildgebung. Es enthält auch zwei Live-Sekundärelektronendetektoren, die eine gleichzeitige Abbildung der Topographie und Oberflächenstruktur ermöglichen. Darüber hinaus umfasst XL 30 erweiterte Bildverarbeitungs- und Analysefunktionen. Die automatisierte Bildoptimierung hilft dabei, eine optimale Bildqualität zu erzielen, während die selbstzentrierte Stufe mit mehreren Z-Achsen-Stufen und Manipulatoren verbunden werden kann, um eine Reihe von Bewegungen bereitzustellen. PHILIPS/FEI XL30 ist hinsichtlich der Probenhandhabung mit einer breiten Palette von Probenhaltern und -stufen ausgestattet. Dazu gehört alles, von einem Hochvakuum-Probenmanipulator bis hin zu einem Kryohalter für die Niedertemperatur-Bildgebung. Darüber hinaus nutzt FEI XL30 eine automatisierte Umweltkontrolle, um eine Reihe von Umweltbedingungen bereitzustellen. Schließlich bietet XL30 eine Reihe von Sicherheitsmerkmalen, darunter eine verbesserte Kammerstrahlungsabschirmung, eine mechanische Schwingungsisolierung und ein Autostufen-Kollisionsvermeidungssystem. Insgesamt ist PHILIPS/FEI XL 30 eine ideale Plattform für die Elektronenmikroskopie mit hochmodernen Features und Performance. Die Kombination aus fortschrittlichen bildgebenden Funktionen, Probenstufen und Sicherheitsmerkmalen macht FEI XL 30 zu einem idealen Instrument für Entdeckung und Forschung.