Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9398344 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für präzise Bildgebung und Materialanalyse. Es wurde entwickelt, um anspruchsvolle Aufgaben mit hoher Genauigkeit und Geschwindigkeit zu bewältigen. Das Gerät ist mit einer fortschrittlichen Elektronenkanone und einer einstellbaren Objektivausrüstung ausgestattet, die eine hervorragende Leistung und Auflösung in einer Vielzahl von Anwendungen bietet. FEI XL 30 wurde entwickelt, um Elektronen über einen großen bildgebenden Bereich genau zu fokussieren und zu detektieren. Die qualitativ hochwertige Bildgebungsfähigkeit wird durch die Fähigkeit des Systems, zwischen mehreren Elektronenquellen von niedriger bis hoher Leistung zu wechseln, weiter verbessert. Die Hauptlinseneinheit wird von einer hochauflösenden Sekundärlinsenmaschine zur Aufnahme kleiner Merkmale unterstützt. Das Gerät enthält High-End-Detektoren für Messfunktionen bis zu einem einzigen Mikrometer oder weniger. Mit einem Hochleistungs-Phosphoreszenz- und Sekundärelektronendetektor kann die Einheit detaillierte Bilder von Materialien vom Submikronbereich bis zur Makroebene bereitstellen. Darüber hinaus können eine Reihe von Detektoren und spektroskopischen Werkzeugen für SEM-EDX-, STEM-EDX- und EDS-Analysen verwendet werden. PHILIPS XL30 ist mit präzisen automatisierten Probenstufen ausgestattet, um eine konsistente und schnelle Bewegung der Probe zu gewährleisten. Die Stufe ist so konzipiert, dass sie leicht angepasst werden kann, sodass Daten über längere Zeiträume gesammelt werden können. Da die Stufe XY angetrieben und gekippt ist, können verschiedene Probenorientierungen mit Leichtigkeit erreicht werden. Die Vergrößerung der Probe kann auch durch Einstellung des automatisch einstellbaren unteren Quelle-Probe-Spiels eingestellt werden. PHILIPS XL 30 unterstützt mehrere Betriebsmodi, damit der Benutzer eine Vielzahl von Materialien und Strukturen studieren kann. Darunter sind Secondary Electron Imaging (SEI), Backscattered Electron Imaging (BEI), Electron Backscatter Diffraction (EBSD) und Cathodoluminescence (CL). Mit der zusätzlichen Funktion von EDS ist die Einheit in der Lage, eine kompositorische Analyse und Kartierung auf Submikron-Ebene durchzuführen. Zusammenfassend ist PHILIPS/FEI XL30 ein vielseitiges und leistungsstarkes SEM, das eine genaue Bildgebung, Materialanalyse und kompositorische Abbildung ermöglicht. Das Gerät ist mit fortschrittlichen Elektronenquellen und Detektoren, mehreren Analysewerkzeugen und automatisierten Probenstufen ausgestattet, um einfachere und produktivere Ergebnisse zu gewährleisten.