Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #9408620 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das ein großes Sichtfeld, eine schnelle Scangeschwindigkeit und hochauflösende Bildgebungsfunktionen umfasst. FEI XL 30 wurde sowohl für Forschung als auch für industrielle Anwendungen entwickelt. Die fortschrittliche Elektronenoptik und die neuen bildgebenden Technologien ermöglichen es, eine signifikant verbesserte Rohdatenqualität zu erzeugen. Das große Sichtfeld des Mikroskops bietet einen beispiellosen Detailgrad, der in Standard-SEMs nicht verfügbar ist. So kann es beispielsweise problemlos zu einem Bruchteil der Kosten im Vergleich zur manuellen Querschneidung noch nie gesehene Querschnitte von Objekten erzeugen. Es ist auch in der Lage, schnell zu scannen, mit Scan-Geschwindigkeiten höher als jedes andere SEM in seiner Klasse. Die bildgebenden Fähigkeiten von PHILIPS XL30 werden durch seine hochmoderne Elektronenoptik verbessert. Ein modifizierter Germanium Wien Filter sorgt auch bei Abblendenergie für eine hervorragende Bildauflösung. Dies führt zu beeindruckender Schärfentiefe und außergewöhnlicher Schärfentiefe. Der Grad der Vakuumstabilisierung wird auch durch einen patentierten Sekundärelektronen-Suppressor (SES) bereitgestellt, der sich während des Gebrauchs sofort an neue Vakuumbedingungen anpassen kann. Darüber hinaus wurde XL 30 so konzipiert, dass es einfach zu bedienen ist. Seine Benutzeroberfläche enthält hilfreiche Hinweise und Tipps für neue Benutzer sowie automatisierte Bildverarbeitungsfunktionen. Auch elektrische Feldabbildungen, automatische Kantenerkennung und Oberflächentopographiemessungen sind für eine verbesserte Probenanalyse vorgesehen. Zusammenfassend ist PHILIPS/FEI XL30 ein leistungsstarkes und vielseitiges SEM, das eine beispiellose Leistung in Bildauflösung, Geschwindigkeit und Sichtfeld bietet. Die fortschrittliche Optik, die intuitive Benutzeroberfläche und die automatisierten Funktionen ermöglichen es, ein ideales Werkzeug für Forschung und industrielle Anwendungen zu werden.