Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30S #293674765 zu verkaufen

Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.

ID: 293674765
Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEG-SEM) SE Detector BSE Detector UHR SE (TLD) Detector EDAX EDX Detector Main board card non-functional.
PHILIPS/FEI XL 30S ist ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer einzigartigen Kombination aus hoher Leistung, Fähigkeiten und Kosteneffizienz. Seine breite Palette von Fähigkeiten und benutzerfreundliches Design machen es zu einer beliebten Wahl für den Einsatz in Industrie, Wissenschaft und Forschung. Diese fortschrittliche SEM-Ausrüstung wurde für eine optimierte Bildgebung und Kristallorientierung entwickelt. Es ist mit einem 4-Achsen-optischen System konfiguriert, das bis zu 18 kV Strahlvergrößerung und 10 nm Auflösungsfähigkeit bietet. Das Gerät verfügt über eine hochdruckautomatisierte Kohlenstoff-Probenlademaschine zur schnellen und zuverlässigen Beladung von Probenmaterialien. Weitere beeindruckende Merkmale von FEI- XL30S sind ein Auto-Alignment-Tool für Probenstufen, ein eingebauter Brucker/Sargent-Probenwechsler und ein Niedervakuum-Probenhalter für die Analyse von Low-kV-Proben. Der Probenhalter hat einen großen Arbeitsbereich und ist zur Maximierung des Durchsatzes ausgelegt. PHILIPS XL 30 S ist für den Betrieb in der Low-kV-Umgebung mit einer hohen Bildauflösung von bis zu 12 nm bei 10 kV ausgelegt. Dies wird durch den Einsatz von hochintensiven, digitalen Bildverarbeitungsalgorithmen und einem hohen Dynamikumfang erreicht. Es verfügt auch über eine leistungsstarke, schwingungsarme motorisierte Bühne mit einer geringen Steifigkeit Struktur. Das erweiterte FEI XL 30S Asset ist mit einer E-Z-Datenerfassungssoftware und einer E-Z-Analysesoftware für verbesserte Bildanalyse und Reporting-Erfahrungen ausgestattet. Die E-Z-Datenerfassungssuite umfasst Software zur Bildverarbeitung, Mikrostrukturanalyse, Texturmessung und elementaren Kompositionsbestimmung. Das Modell ist für eine Vielzahl von Anwendungen konzipiert. Dank seiner Vielseitigkeit und Benutzerfreundlichkeit eignet es sich für Studien zur Bildgebung und Kristallorientierung in verschiedenen Märkten, einschließlich industrieller Materialien, Halbleitersubstrate, Beschichtungen und Metallurgie. Insgesamt ist XL30S eine ideale Wahl für Labore und Forschungseinrichtungen, die nach fortschrittlichen Hochleistungs-SEM-Fähigkeiten suchen. Seine hochauflösende Bildgebung mit schnellem Durchsatz macht es zu einer idealen Wahl für eine schnelle Analyse und detailliertere Analyse von Proben.
Es liegen noch keine Bewertungen vor