Gebraucht PHILIPS / FEI XL 40 #293610598 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 40 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das den Anwendern leistungsstarke und zuverlässige Rasterfunktionen bietet. Dieses hochmoderne Mikroskop ist in der Lage, Vergrößerungen von bis zu 25.000 x mit einer Auflösung von über 1 nm bereitzustellen. Es bietet auch ein großes Sichtfeld und bietet Anwendern eine Echtzeitbeobachtung von Prozessen, die in nanometergroßen Proben auftreten. FEI XL 40 ist mit einer Feldemissionskanone ausgestattet, die einen Abstrahlstrom und eine hohe Stromdichte ermöglicht, die für mehr Genauigkeit und Auflösung sorgt. Dieses SEM verfügt auch über einen in-columnPrimary und Secondary Electron Detector (PE/SEC), mit dem Benutzer schnell zwischen Datenerfassungs- und Bildgebungsmodi wechseln können, was die Effizienz verbessert. Darüber hinaus umfasst PHILIPS XL-40 einen Rückstreudetektor, mit dem Benutzer verschiedene Materialien in einer Probe identifizieren können, sowie einen Energy Dispersive Röntgendetektor (EDS) für die Elementaranalyse. PHILIPS/FEI XL-40 verfügt zudem über einen hochwertigen Flachbildschirm und eine sechsachsige Motorisierung, die Anwendern ein automatisiertes Probenscannen ermöglicht. PHILIPS XL 40 wurde entwickelt, um mit Aberration Corrected EMs kompatibel zu sein, so dass Benutzer Proben mit verbesserter Auflösung und Definition beobachten und fotografieren können. Dieses System ist auch mit Stage Autofocus ausgestattet, wodurch Bilder fokussiert bleiben können, während die Bühne über mehrere Achsen gedreht wird. XL-40 ist ein fortschrittliches SEM, das Benutzern maximale Scanfunktionen und Auflösung bietet. Seine fortschrittlichen Funktionen wie Aberration Correction, EDX, hochauflösende Bildgebung und Sample Scanning machen es zu einer idealen Wahl für Forschung, Fertigung und akademische Anwendungen.