Gebraucht PHILIPS / FEI XL 40 #293627438 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 40 ist ein Rasterelektronenmikroskop der zweiten Generation (SEM), das für eine Vielzahl von Anwendungen entwickelt wurde. Es bietet eine Reihe von hochauflösenden Bildgebungsfunktionen und kann verwendet werden, um Proben auf atomarer Ebene zu visualisieren. Das SEM besteht aus mehreren Schlüsselkomponenten und ist in der Lage, Vergrößerungen von bis zu 400.000x zu erreichen. Das Herzstück von FEI XL 40 ist seine Elektronenkanone. Die Pistole erzeugt einen Elektronenstrahl, der zur Probe hin beschleunigt wird, und bei Erreichen der Probe erzeugen Wechselwirkungen zwischen dem Strahl und der Probe Signale. Dieses Verfahren wird als sekundäre Elektronenemission bezeichnet und führt zu einem Graustufenbild, das Merkmale der Probe mit einer Auflösung von bis zu 1 Nanometer aufweist. PHILIPS XL-40 enthält auch einen hochauflösenden chromatischen und sphärischen Aberrationskorrektor in der Spalte. Dieser Korrektor ermöglicht die gleichzeitige Abbildung und Analyse der Probe aus verschiedenen Winkeln und reduziert unerwünschte Aberrationen, die zu einer falschen Bildinterpretation führen können. PHILIPS XL 40 ist mit einer AutoTune-Technologie ausgestattet, die einzigartig für FEI ist. Diese Technologie ermöglicht die einfache Bedienung des SEM, auch durch unerfahrene Techniker. Diese Technologie ermöglicht eine anwendergesteuerte Mehrpunktoptimierung, die eine schnellere Analyse und eine verbesserte Bildgebungsleistung ermöglicht. FEI XL-40 enthält eine Reihe von anderen Funktionen, einschließlich einer Scanfleckgröße von 10nm, 10nm Spektralbereich von EDS und niedrige kV Kühlung. Diese Funktionen ermöglichen es dem SEM, die maximale Menge an nützlichen Daten aus der Probe zu sammeln. Um den Anwender bei der Interpretation der Daten zu unterstützen, ist PHILIPS/FEI XL-40 mit einer Reihe von Analysetechniken ausgestattet, darunter EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) und WDS (Wellenlängen-Dispersive Spectroscopy). Mit diesen Techniken kann eine detaillierte elementare Analyse der Probe durchgeführt werden. Insgesamt ist XL 40 ein ausgezeichnetes SEM für eine Vielzahl von Anwendungen. Seine automatisierten Fähigkeiten, hochauflösenden Bildgebungsfunktionen und seine Reihe von Analysetechniken ermöglichen es ihm, detaillierte Informationen über Proben auf atomarer Ebene zu generieren.