Gebraucht PHILIPS / FEI XL 40 #293650347 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 40 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur detaillierten Analyse einer Reihe von Materialien verwendet wird. Es verfügt über einen variablen Druckmodus, der es dem Benutzer ermöglicht, den Druck in der Kammer zu steuern, der für die Abbildung von fragilen Proben wie biologischen Stoffen wichtig ist. Die Kombination aus Feldemissionsquelle und speziellem Everhart-Thornley-Gasdetektor ermöglicht es dem Mikroskop, unter verschiedenen Bedingungen zu arbeiten und dank einer großen Fokustiefe extrem hochauflösende Bilder zu liefern. Die Besonderheit dieses Mikroskops ist seine Fähigkeit, im dreidimensionalen Modus zu arbeiten, so dass Benutzer hoch detaillierte 3D-Rekonstruktionen von Komponenten und Nanostrukturen erstellen und manipulieren können. Das Mikroskop ist mit einem integrierten Hochleistungs-EDS-Detektor (Energy Dispersive X-ray Spectrometry) ausgestattet, der eine gleichzeitige elementare Analyse von Proben ermöglicht. Der EDS-Detektor ist weiter in ein schnelles automatisiertes Probenladesystem integriert, um eine vollständige Abbildung der Komponenten zu ermöglichen. Die Kombination dieser Merkmale ergibt ein vielfältiges Spektrum analytischer Fähigkeiten, die ein gutes Verständnis der Zusammensetzung der Probe ermöglichen. FEI XL 40 verfügt auch über einen In-Objektiv-Detektor, der einen besseren Kontrast und eine bessere Auflösung für die Bildgebung ermöglicht. Der In-Linsen-Detektor verwendet eine einzigartige Low-kV-Plattform, die die elektrische Ladung des Elektronenstrahls moduliert, um den Kontrast in den Bildern zu erhöhen und die Auflösung zu verbessern. Dieses Feature kombiniert mit einem In-Objektiv-Autoscan-System macht dieses Mikroskop ideal für die Erfassung höchster Details in einer Vielzahl von Materialien. PHILIPS XL-40 basiert auf einer offenen Plattform, die leicht aufrüstbar ist und die anspruchsvollsten Anforderungen erfüllt. Es ist ergonomisch gestaltet und kann mit minimalem Training schnell und einfach montiert und bedient werden. Bei der Überwachung ist PHILIPS/FEI XL-40 mit einer intuitiven Benutzeroberfläche ausgestattet, die eine einfache, funktionsreiche Bedienbarkeit ermöglicht. Zusammenfassend ist FEI XL-40 ein leistungsfähiges und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop, das speziell für die detaillierte Analyse verschiedener Materialien entwickelt wurde. Es ist dank seiner innovativen technologischen Eigenschaften in der Lage, extrem hochauflösende Bildgebung und simultane Elementaranalyse zu liefern. Es ist auch sehr kontrollierbar und intuitiv bedienbar, so dass es eine ideale Wahl für eine Vielzahl von Benutzern.