Gebraucht PHILIPS / FEI XL 40 #293659624 zu verkaufen

Das PHILIPS/FEI XL 40 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein fortschrittliches Analysewerkzeug für eine überlegene Signalauflösung und auflösungsbasierte Bildgebung. Mit einer Reihe von Funktionen, einschließlich hochpräziser Positionierung und automatisierter Probenhandhabung, ist dieses Mikroskop ideal für die Probencharakterisierung, Strukturanalyse und erweiterte Bildgebung. Das SEM arbeitet mit einem fokussierten Elektronenstrahl, um Sekundärelektronen von einer Probenoberfläche anzuregen. Diese Sekundärelektronen, die durch das SEM detektiert und verstärkt werden, ermöglichen die Abbildung einer Probe bis auf den atomaren Pegel. Diese Technik ermöglicht eine Auflösung, die in anderen Mikroskopietechniken nicht übereinstimmt. FEI XL 40 ist mit einem erweiterten Inlinsendetektor ausgestattet, der die Beobachtung der Probe in drei Dimensionen ermöglicht. Dieser Detektor liefert einen Bildkontrast und eine Übersichtlichkeit, die mit einer Kernfotografie vergleichbar ist. Darüber hinaus verfügt PHILIPS XL-40 über ein optionales Niedrigvakuumsystem, das eine Bildgebung ohne Probenaufladung ermöglicht und die Untersuchung elektrisch empfindlicher Materialien ermöglicht. Das Mikroskop verfügt zudem über eine elektronische Fokussierung und Fokus-Drift-Kompensations-Abstimmung, die sicherstellt, dass die Probe in scharfem Fokus bleibt, sowie eine effiziente Probenvorbereitung und automatisierte Probenstufenbewegungen. All diese Funktionen machen PHILIPS XL 40 zu einem der fortschrittlichsten SEMs auf dem Markt. XL 40 wurde entwickelt, um einzigartige Leistung und Zuverlässigkeit für jede Anwendung zu bieten. Mit seinem Leistungsspektrum, der Präzisionspositionierung und der automatisierten Probenhandhabung ist dieses SEM eine perfekte Wahl für Anwendungen, die eine überlegene Auflösung und Bildgebung erfordern. Für Unternehmen, die Exzellenz in der Probenanalyse verfolgen, ist XL-40 das perfekte Rasterelektronenmikroskop.