Gebraucht PHILIPS / FEI XL 40 #293665913 zu verkaufen

Das Rasterelektronenmikroskop PHILIPS/FEI XL 40 (SEM) ist ein zuverlässiges und vielseitiges Werkzeug für Präzisionstechnik und materialwissenschaftliche Anwendungen. Es ist mit einem leistungsstarken Elektronenstrahl ausgestattet, der hochauflösende Bilder von Proben bei Vergrößerungen bis zu 70,000X erzeugen kann. FEI XL 40 ist ideal für die Abbildung dünner, zerbrechlicher Proben, wie 2D-Materialien, und kann verwendet werden, um die Oberflächen einer Vielzahl von Materialien, einschließlich Metallen und Halbleitern, effektiv zu analysieren. PHILIPS XL-40 wird von einer EcoPlane Ultra-High-Vakuum (UHV) -Kammer angetrieben, die eine saubere, Hochvakuum-Umgebung beibehält, die für die Erzeugung hochwertiger Bilder unerlässlich ist. Diese Kammer hat eine durchschnittliche Zeit von 10.000 Stunden zwischen Ausfällen (MTBF), die Zuverlässigkeit und Genauigkeit über einen langen Zeitraum gewährleistet. Zusätzlich wird die Bildauflösung aktiv gemessen und automatisch korrigiert, um konstant genaue Ergebnisse über die Zeit zu gewährleisten. FEI XL-40 hat auch eine motorisierte Stufe für größere, schwerere Proben und kann mit einem Joystick für präzise und einfache Manipulation gesteuert werden. Um eine schnelle und genaue Messung von Proben zu ermöglichen, ist XL-40 mit einer Reihe spezialisierter Software zur Analyse und Datenerfassung ausgestattet. Mit der digitalen Bilderfassung können Bilder zur weiteren Analyse gespeichert werden. PHILIPS XL 40 kann Bilder leicht importieren und exportieren. Darüber hinaus kann die Software zur automatisierten Probensteuerung, automatisierten Bildausrichtung und zur Erstellung von elementaren Karten verwendet werden, die die Zusammensetzung von Mustern auf der Probenoberfläche aufzeigen. XL 40 ist in der Lage, eine Vielzahl von Bildern zu erzeugen, einschließlich sekundärer und Rückstreuelektronen, Kathodolumineszenz, Röntgenkarten und elementaren Karten. Diese Vielseitigkeit ermöglicht den Einsatz in einer Vielzahl von Anwendungen, von der Inspektion und Abbildung von Halbleiterbauelementen bis hin zur Untersuchung von Keramik- und Metalloberflächen. Die sorgfältige Bearbeitung und Analyse von Proben, die PHILIPS/FEI XL-40 ermöglicht, kann wertvolle Einblicke in eine Vielzahl von Materialien und Mikrostrukturen ermöglichen.