Gebraucht PHILIPS / FEI XL 40 #293763396 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 40 ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit außergewöhnlichen Fähigkeiten. Es wird verwendet, um die Mikrostrukturen und 3D-Topographie von Materialien auf der Nanoskala zu untersuchen. Das System besteht aus einer Säule mit einem fokussierten Elektronenstrahl, einem Detektionssystem und einer Probenvorbereitungsplattform. FEI XL 40 ist mit einem speziellen Säulendesign ausgestattet, das eine außergewöhnliche Leistung gewährleistet. Es enthält eine Elektronenkanone vom axialen Typ mit einem beheizten Filament und ist in der Lage, maximale Beschleunigungsspannungen von bis zu 30 kV zu erreichen. Es hat eine zweispaltige Konstruktion mit einer Kurzbogensäule, um eine Bildgebung mit geringer Vergrößerung und eine gekippte Langbogensäule für eine Hochvergrößerungsbildgebung zu ermöglichen. Das Erkennungssystem von PHILIPS XL-40 bietet mehrere Möglichkeiten zur Signalerfassung. Seine Standardanordnung ist mit einem Sekundärelektronendetektor, einem rückgestreuten Elektronendetektor, einem In-Linsen-Detektor und einem Signalstrahl-Abbildungsdetektor ausgestattet. Dies ermöglicht eine breite Palette von Bildgebungs- und Analysemöglichkeiten, wie echte 3D-Bildgebung, kompositorische Spektren, Linienabtastung und vieles mehr. PHILIPS XL 40 beinhaltet auch eine Probenvorbereitungsplattform. Diese Plattform ist mit einer Reihe von Probenstufen und Zubehör ausgestattet, wie der Schnellaustauschstufe und der FEI-QIT-Stufe für den Inline-Probentransfer. Diese Tools ermöglichen es Benutzern, eine Vielzahl von Mustertypen schnell und genau zu verarbeiten und zu analysieren. PHILIPS/FEI XL-40 ist ein leistungsstarkes Werkzeug für Forschung und industrielle Anwendungen gleichermaßen. Seine niedrige Spannung, niedrige Vakuumfähigkeit macht es ideal für nichtleitende Materialien, und seine hohe Bildauflösung sorgt dafür, dass Benutzer die beste Qualität Bilder erhalten. Dank seiner außergewöhnlichen Fähigkeiten ist XL-40 ein Muss für Wissenschaftler, die detaillierte Untersuchungen von Materialien auf der Nanoskala durchführen möchten.