Gebraucht PHILIPS / FEI XL 40 #9049866 zu verkaufen

Das Rasterelektronenmikroskop PHILIPS/FEI XL 40 (SEM) ist ein leistungsstarkes bildgebendes Werkzeug zur Charakterisierung einer Vielzahl von Materialien. Es ist ein Gerät, das verwendet wird, um die Oberflächentopographie und Zusammensetzung von Proben bis zur nanoskaligen Ebene zu untersuchen. Es hat die Fähigkeit, Proben bis zu x115.000 mit einer Auflösung von 0,50 nm und einer Bildklarheit und -tiefe von etwa 1 nm zu vergrößern. Die Beleuchtungsquelle ist eine Elektronenkanone, die Elektronen auf einen Leuchtstoffschirm schießt. Diese Elektronen wirken dann mit dem Zielmaterial zusammen, erzeugen Sekundärelektronen, die vom Detektor erfasst und dann als Bild auf einem Monitor angezeigt werden. FEI XL 40 SEM verfügt über eine breite Palette von bildgebenden Funktionen wie Backscatter-Bildgebung, sekundäre Elektronenbildgebung und Kathodolumineszenz. Es kann auch für die Analyse von nichtleitenden Materialien mit einer speziellen Pistole verwendet werden, die in der Lage ist, Sekundärelektronen zu erzeugen. Darüber hinaus hat das SEM die Fähigkeit, chemische Zusammensetzung eines Materials durch energiedispersive Röntgenanalyse (EDX) zu detektieren. Die Software dieses Geräts bietet verschiedene Bildverarbeitungs- und Analysetechniken, die es dem Benutzer ermöglichen, genaue Messungen von Proben vorzunehmen, Zuordnungen von Makropartikelverteilungen zu extrahieren und die Fähigkeiten des Mikroskops stark zu erweitern. PHILIPS XL-40 SEM hat eine große Kammergröße, die ein großes Sichtfeld bietet, im Allgemeinen 560 mm x 330 mm. Es kann große Proben bis zu 30 „x 24“ aufnehmen und eine Auflösung bis zu 1 nm bei der Abbildung im Niedervakuummodus bereitstellen. Dieses SEM hat einen eingebauten flüssigen Stickstoff (LN2) Kryo-Halter, der die Analyse von Proben bei Temperaturen bis -196 ° C ermöglicht. Schließlich verfügt dieses Gerät über einen automatisierten Probenahmer und Probenmanipulator, der Proben bewegen und drehen kann, so dass Proben analysiert werden können, die bisher aufgrund von Größe oder Form unmöglich waren. PHILIPS/FEI XL-40 SEM ist ein wesentliches Werkzeug zur Charakterisierung von Proben in Industrie, Technik und wissenschaftlicher Forschung. Mit seinen umfangreichen Bildgebungs- und Analysefähigkeiten können die Fähigkeiten des SEM genutzt werden, um Materialleistung und -struktur zu identifizieren, detaillierte Karten der Oberflächen der Proben zu erstellen und Einblick in die Materialchemie zu erhalten. Darüber hinaus verbessern die automatisierte Probenmanipulation und LN2 Kryo-Halter die Fähigkeiten der Vorrichtung für spezielle Anwendungen, die extrem niedrige Temperaturen oder Manipulation der Probe erfordern.