Gebraucht PHILIPS / FEI XL 40 #9248867 zu verkaufen

ID: 9248867
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI XL 40 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das verwendet wird, um hochauflösende Bilder von Proben mit größerer Vergrößerung als andere Formen der Mikroskopie zu erhalten. Es verwendet Elektronen statt Licht, um eine Probe abzubilden, und das resultierende Bild ermöglicht die Analyse extrem kleiner Merkmale bis hin zu Nanometern Größe. Dieses SEM verfügt über eine erweiterte Elektronenstrahlsäule mit einem einstellbaren magnetischen Linsensystem und einer Analysekammer mit einem speziellen Einsatz zur Aufnahme größerer Proben. In Bezug auf die Leistung bietet FEI XL 40 eine überlegene Auflösung, einen überlegenen Kontrast und höhere Signal-Rausch-Verhältnisse gegenüber der herkömmlichen Lichtmikroskopie. Dies ermöglicht eine größere Detailgenauigkeit und Klarheit bei der Abbildung von Proben. Dieses Modell verfügt über eine breite Palette von Betriebsarten, die für eine Vielzahl von Materialien wie Halbleiter, Polymere und lebende Proben geeignet sind. Darüber hinaus kann es große Proben mit Scangeschwindigkeiten von bis zu 5.000x physikalischen Hebel pro Sekunde abbilden. PHILIPS XL-40 verfügt über eine Vielzahl von Funktionen zur Vereinfachung des Bildgebungsprozesses, einschließlich einer benutzerfreundlichen grafischen Benutzeroberfläche, einer erweiterten Probensteuerung, einer Bildschirmbearbeitung und -analyse sowie einer automatisierten Datenerfassung. Der eingebaute Mikroprozessor ermöglicht auch automatisierte Messungen verschiedener Parameter, wie Dicke und Geometrie von Proben. Das System ist auch mit automatischer Einstellung des Vakuums ausgestattet, um optimale Arbeitsbedingungen zu erhalten. In Bezug auf die Bilderfassung verwendet FEI XL-40 eine Reihe von mikroskopischen Techniken, einschließlich sekundärer Elektronenbildgebung, rückgestreuter Elektronenbildgebung und Röntgenmikroanalyse. Bilder können auch in einer Reihe von Dateitypen gespeichert werden, einschließlich JPEG, BMP und TIFF. Die Analyse der Daten kann nach der Erfassung mit spezifischer Software durchgeführt werden. XL-40 eignet sich für den Einsatz in einer Vielzahl von Forschungs- und kommerziellen Anwendungen und ist sowohl für akademische als auch industrielle Anwendungen konzipiert. Es ist in der Lage, eine Reihe von Partikeln für analytische und bildgebende Zwecke abzubilden, so dass es für eine Vielzahl von wissenschaftlichen Studien gut geeignet ist.
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