Gebraucht PHILIPS / FEI XL 40 #9249027 zu verkaufen

PHILIPS / FEI XL 40
ID: 9249027
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI XL 40 ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von biologischen und materiellen Proben verwendet wird. Es verfügt über eine hochauflösende optische Säule, die mit einem automatisierten variablen Druckgerät ausgestattet ist und den neuesten EDS-Detektor enthält. Dieses SEM-Bildgebungssystem verfügt über eine Beschleunigungsspannung bis 40 KV sowie eine fensterlose Feldemissionspistole für hohe Helligkeit und geräuscharmen Betrieb. Die Fast-Scanning-Technologie bietet Bilder mit einer Auflösung von 60 µm und ermöglicht die detaillierte Charakterisierung von Proben auf Mikroskalenebene. Darüber hinaus verfügt FEI XL 40 über eine Probenlade- und Sputtereinheit mit einem motorisierten Manipulator, der die Übertragung von Proben erleichtert und die Benutzererfahrung verbessert. Neben seinen optischen Fähigkeiten bietet PHILIPS XL-40 eine Vielzahl von Analyseinstrumenten für die kompositorische Analyse, einschließlich der Energiedispersiven Spektroskopie (EDS). Mit einem Energiebereich bis 30 keV ermöglicht dieser EDS-Detektor den Anwendern die genaue Identifizierung und Quantifizierung von Elementen bis zur elementaren Grenze. Darüber hinaus verfügt PHILIPS XL 40 über einen dedizierten In-Lens-Detektor, der eine schnelle Abbildung bei Abstrahldosen und einen Everhart-Thornley-Detektor ermöglicht, der perfekt zur Ladungskompensation geeignet ist. Es verfügt außerdem über eine XYZ-Automatisierung der Roboterstufe, die eine schnelle und gleichzeitige Probenpositionierung ermöglicht und Benutzern die Möglichkeit bietet, nachfolgende Bilder mehrerer Punkte auf einer Probe abzubilden und zu analysieren. Nicht zuletzt enthält PHILIPS/FEI XL-40 eine benutzerfreundliche Software mit einer großen Auswahl an Bildgebungs- und Analysetools. Abschließend ist XL 40 eine High-End-SEM-Bildverarbeitungsmaschine, die ein umfassendes Spektrum an Bildverarbeitungs- und Analysefähigkeiten für Anwendungen in Wissenschaft, Forschung und Industrie bietet. Mit seinen optischen und EDS-Detektoren, automatisierten Systemen und umfassender Software kann dieses SEM-Instrument Bilder mit überlegener Auflösung und Analyse mit höchster Präzision liefern.
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