Gebraucht PHILIPS / FEI XL 40 #9250114 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 40 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für hochauflösende bildgebende und analytische Funktionen entwickelt wurde. Es ist mit einem In-Column-Direktdetektor ausgestattet, der eine beispiellose Auflösung liefert. FEI XL 40 ist in der Lage, eine Vielzahl von Strukturen und Materialien mit einer Auflösung von bis zu 1,5 Nanometern abzubilden. Dies macht es zu einem unschätzbaren Werkzeug für die Erforschung von nanoskaligen Strukturen und Materialien. Der In-Column-Detektor von PHILIPS XL-40 oder EDX ist ein Spektrometer, das zur Untersuchung der elementaren Zusammensetzung einer Probe verwendet wird. Wenn Elektronen mit einer Probe interagieren, verlieren sie Energie. EDX misst die Energieverluste und erstellt eine elementare Karte der Probe, die die elementare Zusammensetzung und Verteilung aufzeigt. Dies ermöglicht es, sowohl morphologische als auch chemische Merkmale in einer einzigen Analyse zu untersuchen. PHILIPS/FEI XL-40 ist auch mit einem fortgeschrittenen Stadium ausgestattet, so dass es Standortgenauigkeit von 0,5 Nanometern zu erreichen. Diese Stufe ist auch mit dem AutoAlign-Ausrichtungssystem ausgestattet, das sicherstellt, dass die Probe für die Bildgebung und Analyse immer korrekt positioniert ist. Die Bühne kann Proben von bis zu 100 mm Durchmesser aufnehmen. XL-40 ist perfekt für eine Vielzahl von Materialien und Mustertypen. Sein variables Drucksystem ermöglicht die Abbildung von Niedervakuumproben, wie Flüssigkeiten und biologischen Partikeln. Darüber hinaus liefert der rückgestreute Elektronendetektor kontrastreiche Bilder, die ideal für die Analyse dickerer Proben, wie Kunststoffe, Keramiken und Metalle, geeignet sind. XL 40 verfügt über eine Reihe von Hochleistungs-Analysewerkzeugen, mit denen es für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet werden kann. Dazu gehören die Möglichkeit, Proben in 3D abzubilden und zu analysieren, topographische, kompositorische und Phasenanalysen durchzuführen sowie Korngröße und -verteilung zu messen. Darüber hinaus verfügt es über eine intelligente Probenhandhabung, die sicherstellt, dass Proben immer genau positioniert und für die Analyse positioniert werden. Zusammenfassend ist FEI XL-40 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das beispiellose Auflösungs- und Analysefähigkeiten bietet. Der In-Column-EDX-Detektor, die hochpräzise Stufe und das variable Drucksystem machen es ideal für eine Vielzahl von Anwendungen, von der Abbildung von Niedervakuumproben bis zur topographischen, kompositorischen und Phasenanalyse. Es bietet eine erweiterte Ebene der Kontrolle und Intelligenz, so dass es die perfekte Wahl für nanoskalige Anwendungen.