Gebraucht PHILIPS / FEI XL 40 #9252220 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 40 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein vielseitiges Instrument, das Anwendern außergewöhnliche bildgebende Eigenschaften und eine überlegene Auflösung bietet. Es ist in der Lage, Auflösungen bis zu 1 Nanometer zu erreichen, so dass es ideal für komplexe Analyseaufgaben. FEI XL 40 ist mit einer Vielzahl von Zubehör für nahezu jede Probengröße ausgestattet. Es hat auch eine Auto-Kalibrierungsfunktion, die es Benutzern ermöglicht, die Probe bei jeder Vergrößerung genau zu messen. PHILIPS XL-40 wird von einem zweistufigen turbogepumpten Druckgerät angetrieben, das eine ultrahoche Vakuumumgebung bietet, die für die ultraauflösende Bildgebung unerlässlich ist. Das System ist mit differentiellen Pumpstufen ausgestattet und der Druck kann innerhalb des Probengehäuses geregelt werden. Die Beschleunigerspannung hat einen Bereich von 0,001 bis 30 kV, um Benutzern eine breite Palette von Kontrast und Tiefenschärfe zu geben. Der Strom kann bis zu 1 µA eingestellt werden, was eine präzise Bildgebung ermöglicht. PHILIPS/FEI XL-40 verfügt über eine große Kammer mit einer Höhe von bis zu 36 cm, so dass Proben unterschiedlicher Größe untersucht werden können. Es verfügt auch über eine digitale Bildverarbeitungseinheit. Die einfach zu bedienende Steuerungssoftware verfügt über eine benutzerfreundliche Oberfläche und ermöglicht eine hohe Flexibilität. XL-40 ist für den täglichen Gebrauch konzipiert und bietet eine zuverlässige Leistung für wiederholbare Experimente. PHILIPS XL 40 ist in der Lage, eine Vielzahl von Anwendungen wie Bildgebung, Kartierung, nanoelektrische Charakterisierung, EDS (Energy Dispersive Röntgenspektrum) Analyse und allgemeine Probenanalyse. Die Software ermöglicht auch die Erfassung zwei- und dreidimensionaler Bilder, die eine noch detailliertere Analyse ermöglichen. Die Maschine ist auch in der Lage, hochauflösende Bilder von organischen Proben zu erzeugen. Es ist mit der Technologie der Kaltfeld-Emissionskanone (FEG) ausgestattet, die eine Helligkeit von bis zu 300 A/cm2 bietet und einen besseren Kontrast und Tiefenschärfe ermöglicht. Insgesamt ist FEI XL-40 Scanning Electron Microscope ein ideales Werkzeug für Forscher, die hochauflösende Bilder, hervorragenden Kontrast und Benutzerfreundlichkeit benötigen. Seine umfassenden Fähigkeiten machen es zu einem großen Vorteil für jedes Labor, das nach einem vielseitigen und zuverlässigen SEM sucht.