Gebraucht PHILIPS / FEI XL 40 #9276331 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 40 ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das mittels eines Rasterelektronenstrahls Bilder der Oberfläche eines Materials oder einer Probe erzeugt. FEI XL 40 arbeitet in einer Vakuumumgebung, in der Elektronen beschleunigt werden, um ein Bild auf einem Detektor oder lichtempfindlichem Material zu erzeugen. Der Elektronenstrahl wird über die Oberfläche der Probe abgetastet und die Elektronen werden beim Auftreffen auf die Probe gesammelt. Diese Elektronen erzeugen ein zweidimensionales Bild der Oberfläche. PHILIPS XL-40 hat eine Reihe von Vergrößerungen von 5x bis 500.000x. Der Vergrößerungsbereich wird durch den Einsatz von Elektronen bei verschiedenen Beschleunigungsspannungen von 1 kV bis 30 kV erreicht. XL 40 ist ein Umwelt-SEM, was bedeutet, dass es eine Reihe von Fähigkeiten hat, hochauflösende Bilder unter einer Vielzahl von Umweltbedingungen zu erstellen. Dazu gehörten variable Luftfeuchtigkeit und Temperaturregelung, Gaslieferung und Flüssigkeitsprobenlieferung. PHILIPS XL 40 hat auch die Fähigkeit, sowohl sekundäre als auch rückgestreute Elektronen (BSE) Bildgebung durchzuführen. BSE-Bildgebung verwendet die Elektronen, die von der Oberfläche der Probe gestreut werden, um ein Bild zu erzeugen. Diese bildgebende Technik kann Einblick in die Topographie, die elementare Zusammensetzung und die Dicke des untersuchten Materials geben. Neben den SEM-Funktionen umfasst FEI XL-40 auch eine Reihe fortschrittlicher Funktionen, die seine Leistung verbessern. Zu diesen Merkmalen gehören ein hochauflösendes Kamerasystem, analytische Merkmale wie EDS, EBSD und WDS, Probenkohlenstoff-Beschichtungsfähigkeit für nichtleitende Proben und eine Vielzahl von Detektoren, um die Probe in verschiedenen Modi abzubilden. XL-40 ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Werkzeug für Forscher auf dem Gebiet der Materialwissenschaft und Nanotechnologie. Die Kombination aus bildgebenden Fähigkeiten, analytischen Merkmalen und Umweltkontrolle gibt Forschern Einblick in die Eigenschaften ihrer Materialien und Proben, die mit herkömmlichen Mikroskopietechniken nicht erreicht werden konnten.