Gebraucht PHILIPS / FEI XL 40 #9399422 zu verkaufen

ID: 9399422
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM) Does not include EDAX system.
PHILIPS/FEI XL 40 ist ein Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung von Materialien auf Nanometer- und Sub-nm-Ebene. Dieses Elektronenmikroskop verfügt über ein Linsensystem für hochfokussierte und energetische Elektronenstrahlen sowie eine Kaltfeld-Emissionskanone und eine integrierte automatische Bühnensteuerung. Der integrierte Mikroprozessor und das digitale Bildgebungssystem bieten dem Anwender hochgradig detaillierte Bildgebungsoptionen, darunter Autofokus und ein automatisiertes Navigationsmenü. Es verfügt auch über ein intelligentes Objekterkennungssystem zur schnellen Beurteilung von Proben. Diese Kombination von Funktionen macht FEI XL 40 zu einem ausgezeichneten Werkzeug für hochauflösende Bildgebung in Forschung und Produktion. Der hochempfindliche Elektronendetektor bietet die Möglichkeit, Materialien in verschiedenen Modi abzubilden, darunter ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) und einen rückgestreuten Elektronendetektor (BSE). Das SEM bietet Anwendern eine hochauflösende Ansicht bei Vergrößerungen bis zu 50.000 Mal, während der BSE-Detektor ihnen die Möglichkeit gibt, verschiedene Eigenschaften einer Probe wie Korngrenzen und Fehlerstellen zu identifizieren. PHILIPS XL-40 ist ein vielseitiges Werkzeug für die Analyse von Materialien, mit einer Vielzahl von Anwendungen mit seinen bildgebenden Fähigkeiten möglich. Dazu gehören die Messung der Probentopographie, die Messung chemischer und kristalliner Eigenschaften sowie die Abbildung biologischer Proben wie Zellen, Bakterien und Viren. Darüber hinaus erleichtert XL-40 dramatische Effizienz- und Genauigkeitsverbesserungen, da der Elektronenstrahl genau auf die interessierende Probe fokussiert werden kann und der Elektronenstrahl ständig überwacht wird, um eine optimale Leistung zu gewährleisten. Darüber hinaus entfällt durch die Automatisierung von bildgebenden Prozessen ein Großteil der für herkömmliche SEM-Studien erforderlichen Handarbeit. Insgesamt ist PHILIPS/FEI XL-40 ein ausgezeichnetes Werkzeug für die hochauflösende Bildgebung von Materialien. Es bietet überlegene Bildauflösung, automatisierte Bildgebungsprozesse und vielseitige Anwendungen. Diese Eigenschaften machen es ideal für Forschung und Produktion, und es ist eine gute Wahl für diejenigen, die hochauflösende Bildgebung auf einem Nanometermaßstab benötigen.
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