Gebraucht PHILIPS / FEI XL 830 #293627422 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 830 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein fortschrittliches bildgebendes Instrument zur Analyse von Oberflächenmerkmalen, Zusammensetzung und Morphologie. Dieses anspruchsvolle SEM bietet eine breite Palette von Funktionen, ideal für physikalische, chemische und materialwissenschaftliche Anwendungen. FEI XL 830 ist ein vollautomatisches SEM mit einer Feldemissionsquelle und einem hochauflösenden digitalen Signalprozessor. Die Kombination dieser Komponenten ermöglicht höchste Leistung und Vielseitigkeit. Mit den flexiblen Bildgebungsfunktionen können Benutzer die Einstellungen für Schwingen, Neigen, Reichweite und Tuner schnell manipulieren, um Bilder mit niedriger und hoher Auflösung mit feinen Details anzuzeigen. Das Mikroskop ist auch in der Lage, sowohl im herkömmlichen als auch im STEM-Modus (Scanning Transmission Electron Microscopy) abzubilden. PHILIPS XL 830 ermöglicht auch eine erweiterte Probenvorbereitung und -analyse. Der hochauflösende digitale Signalprozessor ermöglicht es Benutzern, den gewünschten Bereich richtig zu analysieren, während die Probenvorbereitungskammer eine Feinmanipulation von Proben ermöglicht, um eine bestmögliche Analyse zu ermöglichen. Die hochintensiven Elektronenstrahl- und Backscatter-Bildgebungstechniken ermöglichen die Analyse der Zusammensetzungs- und strukturellen Eigenschaften von Proben im Atommaßstab. Die leistungsstarken Analysefunktionen des XL 830, die mit seinen einfach zu bedienenden Software- und Systemkomponenten übereinstimmen, machen es zu einem großen Vorteil für jedes Forschungslabor. Seine Flexibilität ermöglicht die Verwendung des Elektronenstrahls in einer Vielzahl von Bildmodi einschließlich sekundärer und rückgestreuter Bildgebung zur Untersuchung organischer und anorganischer Proben. Darüber hinaus ist das System mit einer Vielzahl von analytischen Fähigkeiten ausgestattet, einschließlich der energiedispersiven Röntgen- (EDX) Spektroskopie, der energiefilterten Transmissionselektronenmikroskopie (EFTEM) und der wellenlängendispersiven Röntgen- (WDS) Spektroskopie. Diese analytischen Fähigkeiten machen PHILIPS/FEI XL 830 zu einem wirksamen Werkzeug zur Durchführung von elementaren, räumlichen oder kompositorischen Analysen von Proben im Nanometermaßstab. Insgesamt ist FEI XL 830 ein vielseitiges und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das es Anwendern ermöglicht, eine Analyse mit einer Reihe von Auflösungen mit ultrahoher Präzision durchzuführen. Sein digitaler Signalprozessor und seine variablen Steuerungen maximieren die Benutzerfreundlichkeit und Zuverlässigkeit, während seine Hochleistungs-Analysefunktionen eine breite Palette von Informationen über Proben auf atomarer Ebene liefern. Seine Flexibilität und seine fortschrittlichen Eigenschaften machen es zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen in den Bereichen Physikalische, Chemische und Materialwissenschaften.