Gebraucht PHILIPS / FEI XL 830 #293653200 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 830 ist ein erstklassiges Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Forschung und industrielle Anwendungen. Es verfügt über drei unabhängige Elektronensäulen für maximale Vielseitigkeit, ermöglicht die Beobachtung von komplexen und komplizierten Strukturen bei Auflösungen bis zu 2 Nanometer. Das SEM ist mit einem Detektionssystem ausgestattet, das maximale Kontraste und Auflösungen bis zu 50 Nanometer bietet und Anwendern optimale Bildgebungsfunktionen bietet. FEI XL 830 bietet die Möglichkeit, große Sichtfelder in Echtzeit anzuzeigen, was durch seine Suite von High-End-Bildgebungswerkzeugen ermöglicht wird. Dazu gehören eine Digitalkamera, eine digitale Bildanalysesoftware und eine 3D-Bildgebung. Die Digitalkamera ermöglicht die Aufnahme hochauflösender Bilder, während die Bildanalysesoftware zur Interpretation der gesammelten Bilder verwendet wird. Schließlich bietet der 3D-Bildgebungsprozess Benutzern die Möglichkeit, Proben aus mehreren Blickwinkeln anzuzeigen, sodass sie ein umfassenderes Verständnis der komplexen Details der Probe erhalten. PHILIPS XL 830 ist auch mit einem Lasersystem für die Probenvorbereitung ausgestattet, mit dem Benutzer Proben präzise schneiden und schneiden können, ohne Schäden zu verursachen. Dieses SEM ist auch zur Elementaranalyse in der Lage, was es zu einem idealen Werkzeug für die Analyse einer Vielzahl von Materialien macht. Die hohe Auflösung, gepaart mit den integrierten Detektoren, macht es zu einem unschätzbaren Werkzeug für materialwissenschaftliche Studien. XL 830 ist benutzerfreundlich, mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche und ergonomischen Bedienelementen. Mit dem LCD-Display können Anwender ihren Bildgebungsprozess überwachen und so die Mikroskopeinstellungen für eine optimale Bildgebung anpassen. Es verfügt auch über automatisiertes Scannen, das Scans unbeaufsichtigt für längere Zeit ausführen kann, so dass es eine geeignete Wahl für Hochdurchsatz-Labors ist. Abschließend ist PHILIPS/FEI XL 830 ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop, das hervorragende bildgebende Fähigkeiten und Vielseitigkeit bietet. Es ist eine ideale Wahl für eine breite Palette von Materialien Analyse Anwendungen, bietet hohe Bildauflösungen, überlegenen Kontrast, und die Fähigkeit, eine Vielzahl von Materialien zu analysieren. Mit automatisiertem Scannen und ergonomischem Design ist FEI XL 830 ein erstklassiges Instrument, das für jede Forschung und Industrie geeignet ist.