Gebraucht PHILIPS / FEI XL 835 #293811123 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 835 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die Bildgebung im Nanoskalibereich. Das Mikroskop hat einen Vergrößerungsbereich von bis zu 1 Million Mal, und siehe Details von so klein wie 1 Nanometer. Diese Detail- und Auflösungsebene ermöglicht erstaunliche Bilder von Proben bis zur Visualisierung einzelner Atome. Es ist mit einem Lorentz-Feldrückstreudetektor ausgestattet, der Bilder mit hohem Kontrast und deutlicher Unterscheidung zwischen hochleitfähigen, niedrig leitfähigen und isolierenden Materialien bietet. FEI XL 835 ist in der Lage, mehrere Abbildungsmodi zu erzeugen, einschließlich sekundärer (SE), Rückstreuung (BSE) Beugung (EDX) und übertragener Elektronenbildgebung (TE). Es hat auch eine fortschrittliche 6-Achsen-Stufendriftkorrektur, um schnell die richtigen Abbildungsparameter zu erhalten und Drift für hochqualitative Bilder zu minimieren. PHILIPS XL 835 verfügt über eine hochauflösende Digitalkamera und einen Videomonitor zur hochauflösenden Analyse von Proben mit der Fähigkeit, kleine Details und Variationen in der Probe zu erkennen. Das Mikroskop umfasst auch automatisierte einfache, PC-gesteuerte Fernbedienungen mit einer Reihe von zusätzlichem Zubehör, wodurch es für eine Vielzahl von Anwendungen sehr vielseitig einsetzbar ist. XL 835 verfügt über ein aktives Schlagstromkorrektursystem, das die Auswirkungen der Beschleunigungsspannung kompensiert, wodurch die erzeugten Bilder genauer und die Arbeitszeit kürzer werden. Das System verfügt auch über eine Z-only-Fokuskorrektur-Funktion für höchste Kontrastbilder. Zu den attraktiven Merkmalen dieses leistungsstarken Mikroskops gehören der Modus „Sample Rotation“ und „Scan Equalize“ für die Anwendung fortschrittlicher Algorithmen zum Ausgleich von Bildhelligkeit und Kontrast; 3D-Bildgebungsfunktionen; benutzerfreundliche Schnittstelle und automatisierte Fernbedienung; und In-situ-Probenhalter-Netzheizung. Darüber hinaus ist PHILIPS/FEI XL 835 mit Feldemissionselektronenquelle und hochpräziser elektrostatischer Abschirmung ausgestattet. Dies trägt zu einer hervorragenden Auflösung bei und reduziert die Aufladung von Artefakten auf dem Bild. Abschließend ist FEI XL 835 ein ausgezeichnetes Rasterelektronenmikroskop mit High-End-Funktionen, die alle Bedürfnisse der Materialwissenschaft und der biologischen Forschung erfüllen, so dass Benutzer mit bemerkenswerter Auflösung und Genauigkeit auf Nanoskala abbilden können.