Gebraucht PHILIPS / FEI XL 855 Altura #122396 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 855 Altura ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das für hohen Durchsatz, Hochleistungs-Bildgebung und Analyse entwickelt wurde. Es bietet außergewöhnliche Leistung für Wafer- und Sample-Imaging-Anwendungen. Mit seiner fortschrittlichen Hardware und Software können Anwender eine überlegene Bildauflösung, eine schnelle Bildaufnahme und eine genaue Analyse erwarten. FEI XL 855 Altura verfügt über eine große 160mm Kammer und die Fähigkeit, Kipp- und Drehbewegungen in der Probenstufe aufzunehmen, um die Genauigkeit der Bildgebung und Analyse zu verbessern. Das Mikroskop verfügt über einen hochauflösenden, digitalen Retarding Field Energy Filter, der ultraschnelle Bildgebung im Phasenkontrast-Bildgebungsmodus ermöglicht. Darüber hinaus verfügt PHILIPS XL 855 Altura über ein modernes optisches System mit bis zu fünf-Achsen-Steuerung und eine Vielzahl von optischen Modi, einschließlich Epi-Beleuchtung und semi-transparente Rückbeleuchtung. Die Detektoren des Mikroskops bieten überlegenen Kontrast und Auflösung für 3D-Bildgebung, niedrige kV-Bildgebung und Ptychographie. Darüber hinaus hilft der patentierte Low-Vakuum-SE-Bildgebungsmodus, Probenschäden zu minimieren und Bildartefakte zu minimieren. Das Design umfasst auch visuelle und vorausschauende adaptive Fokus-Controller, vollautomatische Bewegung durch mehrere Positionen, und Imaging System Technology (IST) Software zur Steuerung von Bildauflösung, Kontrast und Helligkeit. Weitere Merkmale von XL 855 Altura sind eine CryoPrep-Probenladeoption für Kryo-Proben, automatisches Nähen mehrerer Bilder, Mehrkanal-Bildungsmodus, luftgekühlte/wassergekühlte Elektronensäulen, unbegrenzte Bildgebungsparameter, zwei Strahlformungsoptiken und ein Auto-Kalibriermodus. Mit diesen Funktionen und mehr können Anwender eine überlegene Bildauflösung und Bildgebungsgenauigkeit erwarten. Insgesamt ist PHILIPS/FEI XL 855 Altura ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das leistungsstarke Bildgebungs-, Analyse- und Steuerungsfunktionen bietet. Mit seinem fortschrittlichen digitalen Retarding Field Energy Filter, visuellen und vorausschauenden adaptiven Fokus-Controllern und der IST-Software können Anwender eine überlegene Auflösung, Artefakte-Minimierung und automatisierte Mechanik erwarten.