Gebraucht PHILIPS / FEI XL Sirion #293636315 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL Sirion Scanning Electron Microscope (SEM) ist eine fortschrittliche bildgebende Ausrüstung, die verwendet wird, um eine Vielzahl von mikroskopischen Eigenschaften und Materialien zu untersuchen. Dieses SEM ist mit einer In-Column „FEG“ -Feldemissionskanone (FEG) -Technologie ausgestattet, die es zu einem leistungsstarken Werkzeug zur Untersuchung von Partikeln auf der Nanoskala macht. Das FEG produziert energiereiche Elektronen, die dünne Proben durchdringen können, so dass Bilder höherer Auflösung möglich sind. Die patentierte Schottky Field Emission Source (SFES) Technologie ermöglicht es dem bildgebenden System, kontrastreiche, hochauflösende Bilder zu erzeugen. Das In-Column Gun Design und die Strahlenschutzabschirmung ermöglichen einen einfacheren Installationsprozess und minimieren die Gefahr von mechanischen Beschädigungen. Das SEM bietet auch beeindruckende Bildgebungsfunktionen. Mit einer Auflösung von bis zu 1,4 Nanometern eignet sich das Gerät gut für die Untersuchung von sehr detaillierten Strukturen wie nanoskaligen Partikeln, dünnen Filmen und anderen empfindlichen Materialien. Die intuitive Touchscreen-Oberfläche ermöglicht eine schnelle und einfache Anpassung von Kontrast, Helligkeit und Auflösung. Diese bildgebende Maschine kann auch mehrere Bilder erfassen, so dass die Erzeugung von 3D-Rekonstruktionen und hochauflösende Abbildung. Die automatische Ausrichtung von FEI XL Sirion macht die Durchführung von Experimenten schnell und einfach. Der Ausrichtungsprozess reduziert den Zeitaufwand zur Orientierung der Probe und beschleunigt dadurch den Betrieb und erleichtert die Durchführung laufender Experimente. Darüber hinaus bietet PHILIPS XL Sirion eine automatisierte Oberflächenchemie-Analyse, die die Charakterisierung von Materialien ohne umfangreiche Probenvorbereitung ermöglicht. Schließlich ist XL Sirion SEM auch in der Lage, eine Vielzahl von Abbildungsmodi, einschließlich Niedervakuum, variablen Druck, ESEM und In-Situ-Modi. Mit diesen verschiedenen bildgebenden Modi können Benutzer Materialien und Partikel mit verbesserter Leichtigkeit erforschen, so dass sie detaillierte Informationen über ihre Proben mit größerer Genauigkeit erhalten können.