Gebraucht RAITH 50 #293706140 zu verkaufen
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RAITH 50 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das dem Bediener ein hochauflösendes Bildgebungssystem zur zerstörungsfreien Probeninspektion zur Verfügung stellt. Es kombiniert fortschrittliche Elektronenoptik, hochentwickelte Elektronik und ultrapräzise Bühnen- und Abbildungssteuerungen, um detaillierte mikrostrukturierte Bilder zu erzeugen, die Merkmale kleiner als 1 nm deutlich hervorheben. 50 verwendet Elektronen, um ihre Bilder zu erstellen. Elektrische und magnetische Felder werden verwendet, um einen Elektronenstrahl zu erzeugen, der durch eine Reihe von Präzisionslinsen gesendet und dann auf die Probe unten fokussiert wird. Dieses Verfahren wird Elektronenoptik genannt. Die Elektronen interagieren mit Atomen in der Probe und geben einen Satz Sekundärelektronen frei, die dann vom Detektor gesammelt werden. Anschließend werden die detektierten Elektronen verarbeitet und in das SEM-Bild umgewandelt. RAITH 50 verfügt über einen integrierten Sekundärelektronendetektor (SE) und einen optionalen Rückstreuelektronendetektor (BSE). Mit dem SE vergrößert das Mikroskop Bilder bis zu 50,000X, während der BSE Vergrößerungen bis zu 500,000X erreichen kann. Ein einzigartiges Merkmal des Systems ist sein erweiterter Dynamikbereich, mit dem Benutzer Details in Bildern mit hoher und niedriger Energie beibehalten können, was zu einer genaueren Bildanalyse führt. RAITH 50 verfügt zudem über eine digitale Bühne zur hochpräzisen Positionierung der Probe. Dies ermöglicht es Benutzern, genau über den Bereich von Interesse zu scannen und in jede Richtung zu scannen. Die digitale Bühne verfügt über eine dynamische Zoomfunktion, die es dem Bediener ermöglicht, die Probe zu schwenken, zu drehen und zu vergrößern, während das Bild in Echtzeit angezeigt wird. 50 ist hocheffizient und benutzerfreundlich. Es ist in hohem Maße in der Lage, überlegene Bildgebungsleistung mit minimalem Bedieneraufwand zu erzeugen, um sicherzustellen, dass die Ergebnisse konsistent und genau sind. Seine Präzision und Genauigkeit, kombiniert mit seiner Benutzerfreundlichkeit, machen es zu einer ausgezeichneten Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen, wie Halbleiterfehleranalyse, Materialfehleranalyse und allgemeine Probenbildgebung.
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