Gebraucht RAITH / PREMTEK ionLiNE #9402127 zu verkaufen

RAITH/PREMTEK ionLiNE ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das für eine Vielzahl unterschiedlicher Bildtypen von Ultraniederspannung bis zu mehreren hundert Volt verwendet wird. Es verfügt über eine 5-Achsen-Bühne mit hoher Genauigkeit und großem Arbeitsbereich für lange Teile und ein hochpräzises Positioniersystem, das eine Bildauflösung bis in den Nanometermaßstab ermöglicht. RAITH ionLiNE ist in der Lage, Nieder- und Hochspannungsanalysen durchzuführen, um jede Art von Material unabhängig von seiner Größe zu analysieren. Das Instrument ist mit Hochleistungsoptiken ausgestattet, die die Abbildung von Oberflächendetails mit einem expansiven Blickfeld ermöglichen. PREMTEK ionLiNE hat eine variable Punktgröße Strahlbeschleunigungsspannung, mit einer hohen Transmission und einem ausgezeichneten Strahlfluss für größere Probenflächen und eine Vielzahl von Probengrößen. Es hat auch einen einstellbaren Druck- und Temperaturschutz, der den sicheren und zuverlässigen Betrieb bei Hochvakuumbetrieb ermöglicht. Für die Bildgebung verfügt ionLiNE über ein großes Sichtfeld, drei Monate ununterbrochenes Scannen, ultrahochauflösende Bildgebung und einen hervorragenden Materialkontrast. Es ist mit einem automatisierten exponierten Oberflächenanalysemikroskop ausgestattet, das zur Überwachung von Oberflächenprofilen, zur Erkennung von Oberflächenfehlern und zur schnellen 3D-Topographie verwendet werden kann. RAITH/PREMTEK ionLiNE hat auch STEM-, EBSD- und EDS-Systeme für die chemische, elementare und kristallographische Analyse integriert. Die benutzerfreundliche und intuitive Software im Lieferumfang von RAITH ionLiNE ermöglicht die Bedienung ohne kompliziertes Scripting. Die Software umfasst auch Datenerfassung, Bildanalyse, Bildverarbeitung und fortgeschrittene statistische Analysetools. Darüber hinaus umfasst PREMTEK ionLiNE drei fortgeschrittene bildgebende Techniken zur Erweiterung der bildgebenden Funktionen: erweiterte serielle Schnittrekonstruktion, Neigungsstigmation und Driftkorrektur. Abschließend ist ionLiNE ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit einer Vielzahl von Funktionen, die es für fast jede Anwendung geeignet machen. Es verfügt über eine ausgezeichnete Bildgebungsfähigkeit, die in der Lage ist, Bilder im Nanometermaßstab zu erzeugen, und erweiterte Werkzeuge wie erweiterte serielle Schnittrekonstruktion, Neigungsstigmation und Driftkorrektur ermöglichen erweiterte Bildgebungsfunktionen. Die mitgelieferte intuitive Software ermöglicht die Bedienung ohne komplizierte Programmierung und ist somit ideal für Benutzer mit eingeschränkter Erfahrung in der Elektronenmikroskopie.