Gebraucht SCIXR GLOBAL Scanning Electron Microscope (SEM) #293665623 zu verkaufen

SCIXR GLOBAL Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop für Industrie- und Forschungsanwendungen. Das Instrument verfügt über überlegene hochauflösende Bildgebungsfähigkeiten, hervorragende Oberflächencharakterisierung und genaue Probenanalyse. Mit seiner fortschrittlichen Technologie bietet das SEM eine einzigartige Kombination leistungsstarker Funktionen, darunter Mehrstrahl-Bildgebung, Videobildgebung, Niedertemperatur-Probenbildgebung und eine kundenspezifische Benutzeroberfläche. SCIXR GLOBAL SEM ist mit einer vierkanaligen Elektronenkanone und einem mehrachsigen Abtastsystem zur Erzeugung hochauflösender Bilder ausgestattet. Dieses SEM nutzt ein fortschrittliches Energiefiltersystem und eine Mikrospaltenanzeige zur präzisen Bildaufnahme. Mit einem Konvergenzwinkel von 8,5 ° und einem einstellbaren Arbeitsabstand bietet SCIXR GLOBAL SEM eine große Schärfentiefe und hochauflösende Bildgebung. Das SEM ist zudem mit einer automatisierten Stufe zur einfachen Probenbeladung und Positionierung ausgestattet. SCIXR GLOBAL SEM ist in der Lage, Bilder mit Kontrasten von ~ 0,6 nm bei 40.000x Vergrößerung zu erfassen. Darüber hinaus verfügt das SEM über automatisierte Funktionen zur präzisen Probenanalyse. Die integrierten chemischen und physikalischen Analysewerkzeuge ermöglichen den Anwendern qualitative und quantitative Messungen der Eigenschaften einer Probe. Dazu gehört die Fähigkeit, elementare Zusammensetzung, mechanische Eigenschaften und Partikelgröße zu bestimmen. SCIXR GLOBAL SEM ist hochgradig konfigurierbar, so dass Anwender das Instrument auf ihre spezifischen Anforderungen anpassen können. Dazu gehören austauschbare Detektorköpfe, ein breites Sichtfeld und eine benutzerdefinierte Benutzeroberfläche. Das offene Architekturdesign des Instruments ermöglicht es dem Anwender auch, andere Instrumente wie ein optisches Mikroskop zur Betrachtung eines Bildes in mehreren Achsen oder eine Probenphase zur Probenvorbereitung zu integrieren. SCIXR GLOBAL SEM produziert kontrastreiche, hochauflösende Bilder, die es Anwendern ermöglichen, kleine Proben auf der Nanoskala genau zu erkunden und zu analysieren. Mit seinen fortschrittlichen bildgebenden Fähigkeiten und leistungsstarken Analysewerkzeugen kann das Instrument verwendet werden, um die physikalischen und chemischen Eigenschaften verschiedener Materialien zu untersuchen. Aufgrund seiner Vielseitigkeit und robusten Konstruktion ist SCIXR GLOBAL SEM ideal für Industrie- und Forschungsanwendungen.